特許

J-GLOBAL ID：200903014949267314

光学測定用基材

発明者： 中村 史夫 ,  塚本 遵 ,  信正 均 ,  真多 淳二
出願人/特許権者： 東レ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-024912
公開番号（公開出願番号）：特開2005-249776
出願日： 2005年02月01日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
要約：

【課題】 検出時のS/N比が良好な光学測定用基材を提供する。【解決手段】 物質の存在有無を光で検出する方法に用いる基材であって、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブの誘導体、フラーレン、およびフラーレンの誘導体からなる群より1種類以上選択される物質を含有していることを特徴とする光学測定用基材。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

物質の存在有無を光で検出する方法に用いる基材であって、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブの誘導体、フラーレン、およびフラーレンの誘導体からなる群より1種類以上選択される物質を含有していることを特徴とする光学測定用基材。

IPC (4件)：

G01N21/64 ,  C01B31/02 ,  C12M1/00 ,  C12N15/09

FI (4件)：

G01N21/64 F ,  C01B31/02 101F ,  C12M1/00 A ,  C12N15/00 F

Fターム (27件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB21 ,  2G043LA01 ,  2G043MA04 ,  4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC08 ,  4B029FA15 ,  4G146AA07 ,  4G146AA11 ,  4G146AA17 ,  4G146BA04 ,  4G146CB10 ,  4G146CB17 ,  4G146CB23 ,  4G146CB35

引用特許：

出願人引用 (1件)

• マイクロチップ用プラスチック基板
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-331242   出願人：住友ベークライト株式会社

審査官引用 (5件)

• アモルファスカーボン基材
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-016950   出願人：クラスターテクノロジー株式会社
• カーボンナノチューブ含有ペースト、カーボンナノチューブ分散コンポジットおよびカーボンナノチューブ分散コンポジットの製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-257617   出願人：東レ株式会社
• 炭素質材料の処理方法、カーボンナノチューブ分散液、溶液を得る方法。
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-330395   出願人：東レ株式会社
• 光学計測用炭素基板とその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-366197   出願人：三菱鉛筆株式会社
• バイオマイクロアレイ用基板およびバイオマイクロアレイ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-112086   出願人：大日本印刷株式会社