特許
J-GLOBAL ID:200903015056548648
画素型エネルギ識別検出器の電荷共有を低減する方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
松本 研一
, 小倉 博
, 黒川 俊久
, 荒川 聡志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-009962
公開番号(公開出願番号):特開2008-180713
出願日: 2008年01月21日
公開日(公表日): 2008年08月07日
要約:
【課題】直接変換検出器のピクセルの間の電荷共有を低減した計算機式断層写真法(CT)装置及び方法を設計する。【解決手段】CT検出器が、複数の金属化アノード(102)を含んでおり、各々の金属化アノード(102)は間隙(125)によって他の金属化アノード(102)から離隔されている。直接変換物質(101)が、複数の金属化アノード(102)に電気的に結合されており、直接変換物質(101)に入射するX線によって発生される電荷が複数の金属化アノード(102)の少なくとも2個の間で共有されるような電荷共有領域(124)を有している。X線減弱物質(110)が、電荷共有領域(124)に向かうX線を減弱するように配置されている。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
複数の金属化アノード(102)であって、各々の金属化アノード(102)が間隙(125)により他の金属化アノード(102)から離隔されている、複数の金属化アノード(102)と、
該複数の金属化アノード(102)に電気的に結合されている直接変換物質(101)であって、当該直接変換物質(101)に入射するX線により発生される電荷が前記複数の金属化アノード(102)の少なくとも2個の間で共有されるような電荷共有領域(124)を有する直接変換物質(101)と、
前記電荷共有領域(124)に向かうX線を減弱するように配置されているX線減弱物質(110)と
を備えた計算機式断層写真法(CT)検出器。
IPC (4件):
G01T 1/24
, A61B 6/03
, H01L 31/09
, G01N 23/04
FI (4件):
G01T1/24
, A61B6/03 320R
, H01L31/00 A
, G01N23/04
Fターム (36件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA03
, 2G001DA09
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001KA06
, 2G001LA10
, 2G001PA11
, 2G088EE02
, 2G088EE29
, 2G088FF02
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088JJ30
, 4C093AA22
, 4C093CA02
, 4C093CA31
, 4C093EA11
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093EB20
, 4C093EB22
, 4C093EB30
, 5F088AB09
, 5F088BA20
, 5F088BB03
, 5F088BB07
, 5F088DA17
, 5F088HA20
, 5F088LA08
引用特許:
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