特許
J-GLOBAL ID：200903015084454233
タイヤ均等性試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-535751
公開番号（公開出願番号）：特表2001-511255
出願日： 1998年01月22日
公開日（公表日）： 2001年08月07日
要約：
【要約】タイヤ均等性試験装置は、ガントリー状フレーム構造上に取付けられた試験ステーション(12)と、この試験ステーションに近接して設けられた取入コンベア(10)とを備える。この取入コンベアはタイヤ(102)を受容し、タイヤ(102)の回転軸線(154)が試験ステーション(12)の回転軸線(156)から所定距離に位置するようにタイヤ(102)を中心合わせし、コンベア(100a)はタイヤを試験ステーション(12)に搬送する。この試験ステーション(12)は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ(20)の踏面に係合してタイヤ(20)を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。回転するタイヤ(20)は、タイヤ(20)の均等性を示す電気信号を生成する荷重輪(42)により係合される。
請求項（抜粋）：
タイヤ均等性のようなパラメータを決定するべくタイヤを試験するための機械であって、 a)タイヤ試験ステーションを少なくとも部分的に形成する基部と、 b)前記タイヤ試験ステーションの一部を形成する回転可能な主軸と、 を備え、 c)前記タイヤ試験ステーションが該タイヤ試験ステーションに配置されたタイヤに関する測定を行うための手段を含むことと、 d)当該試験機が前記タイヤ試験ステーションにタイヤが進入する際に通る入口を形成すると共に、タイヤが前記タイヤ試験ステーションから退出する際に通る前記入口から離間された出口をさらに形成することと、 e)当該試験機が前記入口から前記出口まで延びるタイヤ移動経路をさらに形成することと、 f)当該試験機が前記タイヤ移動経路を横切る方向に測定される第一寸法を有し、この第一寸法が前記入口と前記出口との間の前記タイヤ移動経路に沿ってタイヤが移動する距離によって規定される第二寸法よりも少なくとも10%大きいことと、 で構成されるタイヤを試験するための機械。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B60C 25/00
, G01M 17/02 B
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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