特許
J-GLOBAL ID:200903015193827635

光学式変位計

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-184324
公開番号(公開出願番号):特開2006-010361
出願日: 2004年06月22日
公開日(公表日): 2006年01月12日
要約:
【課題】発光素子の発光量や増幅器の増幅率のフィードバック制御を行うことの利点を残しながら、計測の高速化に対応可能な光学式変位計を提供する。【解決手段】光学式変位計は、対象物に光を照射するための発光素子と、対象物からの光を受光して画像信号を生成するためのイメージセンサーと、イメージセンサーからの画像信号を増幅する増幅器を含む信号処理回路と、信号処理回路からの画像信号に基づいて発光素子の発光量及び増幅器の増幅率を含む操作量の少なくとも一つのフィードバック制御を実行する制御部とを備え、フィードバック制御における操作量の少なくとも一つの可変幅が変更設定可能である。制御部は、可変幅設定モードにおいて所定期間の操作量のデータに基づいて操作量の適切な可変幅を設定する。【選択図】図8
請求項(抜粋):
対象物に光を照射するための発光素子と、前記対象物からの光を受光して画像信号を生成するためのイメージセンサーと、前記イメージセンサーからの画像信号を増幅する増幅器を含む信号処理回路と、前記信号処理回路からの画像信号に基づいて前記発光素子の発光量及び前記増幅器の増幅率を含む操作量の少なくとも一つのフィードバック制御を実行する制御部とを備えた光学式変位計であって、 前記制御部が実行するフィードバック制御における前記操作量の少なくとも一つの可変幅が変更設定可能であることを特徴とする光学式変位計。
IPC (1件):
G01B 11/00
FI (1件):
G01B11/00 H
Fターム (26件):
2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065DD06 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL04 ,  2F065NN02 ,  2F065NN13 ,  2F065NN17 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ02 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS01 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 光学式変位計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-077871   出願人:株式会社キーエンス
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-190108
  • 距離検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-015585   出願人:三菱電機株式会社
  • 光学式変位計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-100837   出願人:富士電機株式会社
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