特許
J-GLOBAL ID:200903015301267153
光波距離計
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
工業技術院計量研究所長
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-188656
公開番号(公開出願番号):特開2001-013245
出願日: 1999年07月02日
公開日(公表日): 2001年01月19日
要約:
【要約】【目的】 光波による距離測定技術を提供する。【構成】 パルスの時間幅が狭いモードロック短パルスレーザ光源より出射する高速に変調された光の基本波と第2高調波を、送信光学系により送信し、この送信された光が目標物体に当たり、この目標物体から反射された光を、当該送信光学系と等価な受信光学系で受信し、この受信された光を光検出器によって検出し、その受信信号の位相を位相系によって求め、大気等の周囲環境の影響を受けないで距離を精密に測定する光波距離計である。
請求項(抜粋):
スペクトル幅が広いモードロック短パルスレーザ光源より出射する高速に変調された光を、送信光学系により送信し、この送信された光が目標物体に当たり、この目標物体から反射された光を、上記送信光学系と等価な受信光学系で受信し、この受信された光を光検出器によって検出し、その受信信号の位相を位相計によって求め、距離を精密に測定することを特徴とする光波距離計。
IPC (2件):
FI (2件):
G01S 17/10
, G01B 11/00 B
Fターム (16件):
2F065AA06
, 2F065DD03
, 2F065GG04
, 2F065LL17
, 2F065QQ33
, 5J084AA05
, 5J084AD02
, 5J084BA03
, 5J084BA32
, 5J084BA51
, 5J084BA57
, 5J084BB14
, 5J084CA03
, 5J084CA26
, 5J084DA09
, 5J084EA04
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開平2-013878
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光学的界面間寸法測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-066389
出願人:工業技術院長, 富士写真光機株式会社
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微分測距装置及びその測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-102943
出願人:イムラアメリカインコーポレイテッド
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