特許
J-GLOBAL ID：200903017468958444

発光装置

発明者：
保科 孝治

保科 孝治 について


出願人/特許権者：
昭和電工株式会社

昭和電工株式会社 について


代理人 (5件)： 青木 篤 ,  石田 敬 ,  古賀 哲次 ,  永坂 友康 ,  西山 雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-028589
公開番号（公開出願番号）：特開2007-208196
出願日： 2006年02月06日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：
【課題】発光素子の光自己吸収を低減し、優れた光取り出し効率を有する発光装置を提供すること。【解決手段】基板、該基板上にサブマウントを介してまたは介さずに設けられた半導体発光素子、該半導体発光素子を封止するキャップおよび該キャップの周囲に設けられたリフレクターからなり、該キャップは該半導体発光素子の上面と平行な上面および下面を有し、該上面および下面の間隔が該半導体発光素子の最長の対角線または径の1〜3倍である発光装置。【選択図】図14
請求項（抜粋）：
基板、該基板上にサブマウントを介してまたは介さずに設けられた半導体発光素子、該半導体発光素子を封止するキャップおよび該キャップの周囲に設けられたリフレクターからなり、該キャップは該半導体発光素子の上面と平行な上面および下面を有し、該上面および下面の間隔が該半導体発光素子の最長対角線または径の1〜3倍である発光装置。
IPC (1件)：
H01L 33/00
FI (1件)：
H01L33/00 N
Fターム (11件)：
5F041AA03 ,  5F041CA05 ,  5F041CA34 ,  5F041CA40 ,  5F041CA46 ,  5F041DA04 ,  5F041DA09 ,  5F041DA19 ,  5F041DA32 ,  5F041DA36 ,  5F041FF11
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 米国特許第6,229,160号明細書
  • 米国特許第6,323,063号明細書
  • 米国特許第6,570,190号明細書
審査官引用 (4件)
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