光ファイバを用いた変位計測システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：原崎正
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-104004
公開番号（公開出願番号）：特開2001-289617
出願日： 2000年04月05日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
要約：

【要約】【課題】光強度計測装置により変位発生を検知すると共に、光強度計測装置により変位発生の検知時には、特別に設ける光ファイバ歪分布計測装置により変位発生位置を特定する。【解決手段】変位計測領域aに緊張状態で第1光ファイバ3と第2光ファイバ4を並行して配設し、光ファイバを利用した歪センサ11を第1光ファイバ3の途中にそれぞれ接続して設け、歪センサ11の光の透過光量の増減を計測する光強度計測装置21を設け、光強度計測装置21により変位発生の検知時には、第2光ファイバ4の特定位置の歪みを計測する光ファイバ歪分布計測装置41を特別に設け、光ファイバ歪分布計測装置41により変位発生位置を特定する。

請求項（抜粋）：

変位計測領域に複数の杭を取付け、全杭間に緊張状態で折れ線直線状に支持される第1光ファイバと第2光ファイバを並行して配設し、光ファイバの曲率半径が歪みにより変化して光の透過光量が増減することを利用して歪発生を検知する光ファイバを利用した歪センサを、各杭間の第1光ファイバの途中にそれぞれ接続して設け、第1光ファイバと第2光ファイバの終端同士を接続し、第1光ファイバの途中に接続された上記歪センサの光の透過光量の増減を計測する光強度計測装置を設けると共に、当該光強度計測装置に第1光ファイバと第2光ファイバの基端をそれぞれ接続し、光強度計測装置により変位発生の検知時には、第2光ファイバに光パルスを入射し戻ってくる後方ブリルアン散乱光の周波数が第2光ファイバの歪と関係して変化することを利用して後方ブリルアン散乱光が戻ってくる時間から第2光ファイバの特定位置の歪みを計測する光ファイバ歪分布計測装置を特別に設けると共に、当該光ファイバ歪分布計測装置に第2光ファイバの基端をその基端側に設けた光分岐接続器を介して接続して、光ファイバ歪分布計測装置により変位発生位置を特定するようにしたことを特徴とする光ファイバを用いた変位計測システム。

IPC (2件)：

G01B 11/16 , G01D 21/00

FI (2件)：

G01B 11/16 Z , G01D 21/00 D

Fターム (22件)：

2F065AA01 , 2F065AA65 , 2F065BB05 , 2F065CC00 , 2F065CC14 , 2F065FF31 , 2F065FF41 , 2F065FF46 , 2F065GG08 , 2F065HH15 , 2F065JJ01 , 2F065JJ05 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065PP01 , 2F065SS09 , 2F076BB09 , 2F076BD01 , 2F076BD02 , 2F076BD06 , 2F076BD17 , 2F076BE17

引用特許：

出願人引用 (7件)

インクリボンカセット
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-079566 出願人：フジコピアン株式会社
歪測定装置及び方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-363048 出願人：三菱重工業株式会社
特開平4-086510

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