特許
J-GLOBAL ID：200903018467270909

探傷信号の分析方法及び分析装置

発明者：
川田 かよ子

川田 かよ子 について

, 
川浪 精一

川浪 精一 について

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黒川 政秋

黒川 政秋 について

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浅田 義浩

浅田 義浩 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (4件)： 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-151357
公開番号（公開出願番号）：特開2005-331439
出願日： 2004年05月21日
公開日（公表日）： 2005年12月02日
要約：
【課題】 欠陥エコーのS/N比を向上させ、データ分析の手間の軽減が可能な探傷信号の分析方法及び分析装置を提供する。【解決手段】 入力される探傷信号18をフィルタリング処理する空間フィルタ装置11と、欠陥エコーの見本特徴量データ及び疑似エコーの見本特徴量データを備えた見本特徴量データベース15と、見本特徴量データベース15と探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号から求めた特徴量とをマッチングして分析する自動分析装置14と、探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に最適な表示を行う最適表示装置16と、探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号の表示画面に被検体モデルの画像を表示する相対位置表示装置17とを有する分析装置10として、欠陥エコーを抽出、分析する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析方法において、 前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理し、欠陥エコーを抽出することを特徴とする探傷信号の分析方法。
IPC (3件)：
G01N29/10 ,  G01N22/02 ,  G01N29/22
FI (3件)：
G01N29/10 501 ,  G01N22/02 A ,  G01N29/22 501
Fターム (13件)：
2G047AA07 ,  2G047BA03 ,  2G047BC07 ,  2G047DA02 ,  2G047DB02 ,  2G047DB12 ,  2G047EA04 ,  2G047GB02 ,  2G047GG17 ,  2G047GG20 ,  2G047GG33 ,  2G047GH06 ,  2G047GH12
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (11件)
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