特許
J-GLOBAL ID：200903019067225935

走査光学装置及び画像形成装置

発明者：
木村 一己

木村 一己 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-331936
公開番号（公開出願番号）：特開2005-099336
出願日： 2003年09月24日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：
【課題】 本発明の目的は、BD光束の収差を低減し、BD光束の回転が生じることによるビームスポット形状の乱れを防止し、BD検知精度を向上させた走査光学装置を提供することにある。【解決手段】 本発明では、副走査断面内斜入射光学系の構成をとる走査光学装置において、同期検出光学系を構成する同期検出光学素子の光学面の光軸と前記同期検知光束の主光線との関係を適切に設定している。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
光源手段から出射された少なくとも1つ以上の光束を偏向する偏向手段と、前記偏向手段にて偏向された光束を被走査面上に結像させる走査光学系と、前記偏向手段にて偏向された同期検知光束を前記走査光学系の画像走査光束を結像させる光学面を通過させることなく同期検知手段に導く同期検知光学系と、を有する走査光学装置において、 前記少なくとも1つ以上の光束は、前記偏向手段の回転軸に垂直な面に対し所定角度を有して前記偏向手段の偏向面に入射しており、 前記同期検知光学系の光軸と前記走査光学系の光軸は異なっており、 前記同期検知光学系は、主走査方向と副走査方向のパワーが異なる光学素子を有し、前記光学素子の光学面の子線を含む副走査断面が前記偏向手段の回転軸に対して平行であり、且つ、前記光学素子の光学面の光軸は、前記同期検知光束の主光線と一致していることを特徴とする走査光学装置。
IPC (4件)：
G02B26/10 ,  B41J2/44 ,  H04N1/036 ,  H04N1/113
FI (4件)：
G02B26/10 B ,  H04N1/036 Z ,  B41J3/00 D ,  H04N1/04 104A
Fターム (43件)：
2C362AA10 ,  2C362BA04 ,  2C362BA50 ,  2C362BA51 ,  2C362BA58 ,  2C362BA84 ,  2C362BA86 ,  2C362BA87 ,  2C362BA90 ,  2C362BB03 ,  2C362BB30 ,  2H045BA22 ,  2H045BA32 ,  2H045CA88 ,  5C051AA02 ,  5C051CA07 ,  5C051DA02 ,  5C051DB02 ,  5C051DB22 ,  5C051DB24 ,  5C051DB30 ,  5C051DC04 ,  5C051DC07 ,  5C051DE02 ,  5C051DE21 ,  5C051EA01 ,  5C051FA01 ,  5C072AA03 ,  5C072BA04 ,  5C072DA02 ,  5C072DA04 ,  5C072DA18 ,  5C072DA20 ,  5C072DA21 ,  5C072HA02 ,  5C072HA06 ,  5C072HA09 ,  5C072HA13 ,  5C072HB08 ,  5C072HB11 ,  5C072HB20 ,  5C072XA01 ,  5C072XA05
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM