特許
J-GLOBAL ID：200903019225069504

ハニカムフィルタ及びその製造方法

発明者：
笠井 義幸

笠井 義幸 について

, 
平川 敏弘

平川 敏弘 について


出願人/特許権者：
日本碍子株式会社

日本碍子株式会社 について


代理人 (1件)： 渡邉 一平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-281140
公開番号（公開出願番号）：特開2006-095352
出願日： 2004年09月28日
公開日（公表日）： 2006年04月13日
要約：
【課題】隔壁の堆積物の増加に伴う圧力損失の上昇を抑制することができ、かつ隔壁の堆積物の量を比較的簡易にかつ正確に検知することができるハニカムフィルタ及びその製造方法を提供する。【解決手段】一の方向に延びる複数のセルを形成する隔壁2と、端部42、44においてセル3を交互に目封じする目封じ部4とを備えるハニカムフィルタ1であって、隔壁2が気孔率35〜75%の多孔質の基材からなり、前記基材の水銀圧入法により測定される平均細孔径を(A)μm、バブルポイント法により測定される平均細孔径を(B)μmとした場合に、{(A-B)/B}*100で表される平均細孔径差率が35(%)以下であり、平均細孔径(B)が15〜30μmであり、かつ、バブルポイント法で測定される最大細孔径が150μm以下であるハニカムフィルタを提供する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
一の方向に延びる複数のセルを形成する隔壁と、端部において前記セルを交互に目封じする目封じ部とを備えるハニカムフィルタであって、前記隔壁が気孔率45〜70%の多孔質の基材からなり、前記基材の水銀圧入法により測定される平均細孔径を(A)μm、バブルポイント法により測定される平均細孔径を(B)μmとした場合に、{(A-B)/B}*100で表される平均細孔径差率が35(%)以下であり、平均細孔径(B)が15〜30μmであり、かつ、バブルポイント法で測定される最大細孔径が150μm以下であるハニカムフィルタ。
IPC (6件)：
B01D 39/20 ,  B01D 39/00 ,  C04B 38/00 ,  F01N 3/02 ,  C04B 35/195 ,  B28B 11/00
FI (6件)：
B01D39/20 D ,  B01D39/00 B ,  C04B38/00 303Z ,  F01N3/02 301C ,  C04B35/16 A ,  B28B11/00 Z
Fターム (34件)：
3G090AA02 ,  4D019AA01 ,  4D019BA05 ,  4D019BB06 ,  4D019BC11 ,  4D019BD01 ,  4D019CA01 ,  4D019CB04 ,  4D019CB06 ,  4G019FA01 ,  4G019FA03 ,  4G019FA12 ,  4G019FA13 ,  4G019FA15 ,  4G030AA07 ,  4G030AA36 ,  4G030AA37 ,  4G030AA60 ,  4G030BA32 ,  4G030BA34 ,  4G030CA04 ,  4G030CA10 ,  4G030GA19 ,  4G030GA21 ,  4G030GA35 ,  4G030HA05 ,  4G030HA08 ,  4G030HA18 ,  4G055AA08 ,  4G055AB03 ,  4G055AC10 ,  4G055BA12 ,  4G055BA14 ,  4G055BA34
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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