特許
J-GLOBAL ID：200903021213703270
面品質評価装置及び評価プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉田 研二
, 石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-271341
公開番号（公開出願番号）：特開2005-028410
出願日： 2003年07月07日
公開日（公表日）： 2005年02月03日
要約：
【課題】板成形シミュレーションの結果に基づいて、成形体の面品質の評価を実施する。【解決手段】板材から成形体を製造するプレス成形の数値シミュレーション結果に基づいて、プレス下死点での前記成形体の形状面に垂直に作用する面外偏差応力分布を算出する(S12,S13)。そして、この面外偏差応力分布に基づいて、前記成形体の面品質を表す評価値分布を算出する(S14)。下死点における面外偏差応力は、型から取りだしたあとで生じる微少な凹凸と強く関連しており、成形体の面品質の評価を行うことができる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
板材から成形体を製造するプレス成形の数値シミュレーション結果に基づいて、プレス下死点での前記成形体の形状面に垂直に作用する面外偏差応力分布を取得する偏差応力取得手段と、
前記偏差応力取得手段により取得した面外偏差応力分布に基づいて、前記成形体の面品質を表す評価値分布を算出する算出手段と、
を備える、ことを特徴とする面品質評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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