特許
J-GLOBAL ID:200903021417292163
測距装置
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-216516
公開番号(公開出願番号):特開2009-047661
出願日: 2007年08月22日
公開日(公表日): 2009年03月05日
要約:
【課題】 短い検出時間で正確且つ簡単に対象物までの距離を測定可能な測距装置を提供する。【解決手段】 転送時において、外光の強度が高いほど、転送電圧の大きさを小さくすると、障壁高さが高くなり、より多くの電荷量のキャリアが、第1及び第2ポテンシャル井戸φCD1、φCD2内に残留する。単位期間は、外光の強度に依存しないで設定される。外光の強度が高いほど、多くのキャリアが残留し、最終的に読み出されるキャリアから除去される。外光が強ければ、単位期間当りの転送回数が増加し、第1及び第2ポテンシャル井戸φCD1、φCD2内に蓄積されるキャリアが飽和する前に、転送が行われる。外光が弱ければ、単位期間当りの転送回数が減少し、余分な転送を行わないことで、単位時間当たりの蓄積電荷量を増加させ、短い検出時間において検出精度を向上させることができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
変調した光を対象物に向けて出射する光源と、
半導体基板に設けられた第1及び第2ゲート電極に交互に電圧を印加することで、入射光に応じて発生したキャリアを、交互に蓄積する第1及び第2ポテンシャル井戸と、
前記第1及び第2ポテンシャル井戸にそれぞれ隣接した第3及び第4ポテンシャル井戸と、
転送電圧が印加されることによって、前記第1ポテンシャル井戸と前記第3ポテンシャル井戸との間のキャリアに対する障壁高さを所定値に設定する第3ゲート電極と、
転送電圧が印加されることによって、前記第2ポテンシャル井戸と前記第4ポテンシャル井戸との間のキャリアに対する障壁高さを所定値に設定する第4ゲート電極と、
を備え、
単位期間の終期以降に前記第3及び第4ポテンシャル井戸内に累積的に蓄積された電荷をそれぞれ読み出す測距装置であって、
外光を検出する検出手段と、
前記転送電圧の印加を行う転送電圧印加手段と、
前記検出手段により検出された外光の強度が高いほど、前記転送電圧の大きさを小さくし、且つ、前記単位期間当りの転送電圧印加回数を多くするように前記転送電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする測距装置。
IPC (4件):
G01S 17/10
, G01C 3/06
, G02B 7/40
, G01S 7/48
FI (5件):
G01S17/10
, G01C3/06 120Q
, G01C3/06 140
, G02B7/11 F
, G01S7/48 Z
Fターム (30件):
2F112AD01
, 2F112BA07
, 2F112CA12
, 2F112DA21
, 2F112DA28
, 2F112EA05
, 2F112FA05
, 2F112FA35
, 2F112GA01
, 2H051BB27
, 2H051CB17
, 2H051CC02
, 5J084AA05
, 5J084AB07
, 5J084AD02
, 5J084BA02
, 5J084BA20
, 5J084BA40
, 5J084CA03
, 5J084CA16
, 5J084CA57
, 5J084CA67
, 5J084CA69
, 5J084DA01
, 5J084DA07
, 5J084DA08
, 5J084DA10
, 5J084EA02
, 5J084EA05
, 5J084FA01
引用特許:
出願人引用 (3件)
-
距離画像センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-272001
出願人:松下電工株式会社
-
米国特許出願公開2006/0176467号明細書
-
米国特許6,919,549号明細書
審査官引用 (5件)
-
固体撮像装置及び距離画像測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-216517
出願人:浜松ホトニクス株式会社
-
測距装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-216515
出願人:浜松ホトニクス株式会社
-
測距装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-216514
出願人:浜松ホトニクス株式会社
-
測距センサ及び測距装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-216512
出願人:浜松ホトニクス株式会社
-
光飛行時間型距離センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-041057
出願人:国立大学法人静岡大学
全件表示
前のページに戻る