特許
J-GLOBAL ID：200903021560783542

非接触式角度測定装置

発明者：
斉藤 正史

斉藤 正史 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-286400
公開番号（公開出願番号）：特開2005-055297
出願日： 2003年08月05日
公開日（公表日）： 2005年03月03日
要約：
【課題】 回転角測定精度の向上した非接触式回転角度測定装置を提供することにある。 【解決手段】 回転軸2には、磁石3が取り付けられている。角度センサ素子1は、回転軸2の回転により、磁石3から発生する磁界の変化を検出する。信号処理器5は、温度センサ6によって検出された温度に基づいて、センサ素子1及び信号処理器5及び磁石3を含むセンサの個体差を、信号の振幅値及び/若しくはオフセット値または振幅値の経時変化を補正することによって補正する。センサ素子1は、第1及び第2の出力v1,v2を出力し、信号処理器5は、出力v1及び出力v2の振幅値の温度係数若しくはオフセット値の温度係数若しくは振幅値の経時変化係数を求め、これらの係数によって補正された第1及び第2の出力の比(ratio)を求め、この補正された比(ratio)を用いて角度を算出する。 【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
回転軸と共に回転する磁界発生手段と、前記回転軸の回転により、前記磁界発生手段から発生する磁界の変化を検出するセンサ素子と、このセンサ素子の出力信号を処理する信号処理手段とを有し、前記センサ素子の出力信号に基づいて前記回転軸の回転角度を測定する非接触式角度測定装置において、 前記センサ素子及び前記信号処理手段及び前記磁界発生手段を含むセンサの個体差を補正する補正手段を備えたことを特徴とする非接触式角度測定装置。
IPC (2件)：
G01D5/18 ,  G01B7/30
FI (2件)：
G01D5/18 J ,  G01B7/30 101A
Fターム (24件)：
2F063AA36 ,  2F063BA08 ,  2F063CA08 ,  2F063CA29 ,  2F063CB01 ,  2F063CB03 ,  2F063CB08 ,  2F063DA01 ,  2F063DA05 ,  2F063EA03 ,  2F063GA52 ,  2F063KA01 ,  2F077AA13 ,  2F077AA16 ,  2F077CC02 ,  2F077JJ08 ,  2F077JJ09 ,  2F077JJ23 ,  2F077PP12 ,  2F077PP14 ,  2F077TT49 ,  2F077TT58 ,  2F077UU03 ,  2F077UU20
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (5件)
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