特許
J-GLOBAL ID：200903021652747313
半導体集積回路、欠陥画素補正方法、及び画像プロセッサ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-316077
公開番号（公開出願番号）：特開2004-112736
出願日： 2002年10月30日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：
【課題】本発明は、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても対応可能な欠陥補正回路を提供することを目的とする。【解決手段】半導体集積回路は、イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路を含むことを特徴とする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、
該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路
を含むことを特徴とする半導体集積回路。
IPC (1件)：
FI (2件)：
H04N5/335 P
, H04N5/335 E
5C024CX22
, 5C024EX52
, 5C024GY31
, 5C024HX29
, 5C024HX50
