特許
J-GLOBAL ID：200903079413113378
画像入力装置における欠陥検出補正装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
最上 健治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-283595
公開番号（公開出願番号）：特開2000-101924
出願日： 1998年09月21日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：
【要約】【課題】 様々な撮像シーンに適応でき、また種々の欠陥検出方式に対応できる画像入力装置の画素欠陥検出補正装置を提供する。【解決手段】 連続する3画素のレベル分布を2個対1個に分割するための平均値算出部303 及び比較器304 ,306 と、中心画素が分布上1個側のものか否かを判定するデコード部307 と、2分割された2個側画素のレベル分布状態を定量化するための平均値算出部308 と、2個側画素の分布定量値と1個側画素の信号レベルとの相関を算出するための差分絶対値算出部309 と、該差分絶対値算出部の出力と所定の閾値とを比較する比較器310 と、該比較器出力とデコード部の出力から1個側画素を欠陥と判定するORゲート311 と、欠陥画素の信号レベルを2個側画素の平均値で補正するセレクタ312 とで画素欠陥検出補正装置を構成する。
請求項（抜粋）：
固体撮像素子上もしくは入力画像中で連続する3つの画素の信号レベル分布を2個対1個に2分割するためのレベル分布分割手段と、該2分割された2個側画素のレベル分布状態を定量化するための分布定量値算出手段と、該分布定量値算出手段により得られた2個側画素の分布定量値と1個側画素の信号レベルとの相関を算出するための相関値算出手段と、該相関値算出手段によって得られた相関値が所定の相関値条件を満たし、且つ1個側画素が連続する3画素の中心に位置する画素である場合に、1個側画素を欠陥と判定するための欠陥検出手段と、該欠陥検出手段で欠陥と判定された画素を補正するための欠陥補正手段とを有することを特徴とする画像入力装置における欠陥検出補正装置。
Fターム (8件)：
5C024AA01
, 5C024CA09
, 5C024FA01
, 5C024FA11
, 5C024HA12
, 5C024HA14
, 5C024HA18
, 5C024HA23
