特許
J-GLOBAL ID：200903022883799398

三次元形状測定方法、三次元形状測定装置および校正用物体

発明者：
鈴木 敏

鈴木 敏 について

, 
鈴木 雅大

鈴木 雅大 について


出願人/特許権者：
パルステック工業株式会社

パルステック工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人プロスペック特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-204215
公開番号（公開出願番号）：特開2008-032449
出願日： 2006年07月27日
公開日（公表日）： 2008年02月14日
要約：
【課題】 カメラ座標系の座標軸と測定対象物の回転軸との平行からのずれが多少残っている場合であっても、良好な精度で三次元形状の測定を行うことができる三次元形状測定方法を提供すること。【解決手段】 測定対象物の形状測定する前に、基準ワークを用いてカメラ座標系と基準座標系とのずれ量を校正する。校正してもなお残るずれ量に関しては、角度補正行列Mθによる座標変換によりずれの影響をなくす。Mθによる座標変換後、座標系の一つの座標平面に測定対象物の回転軸を含ませるために、軸合わせ行列MAにより座標変換する。そして、測定対象物OBの所定回転角度毎に変換した座標値を合成し、測定対象物の全体的な外形形状を得る。【選択図】 図15
請求項（抜粋）：
測定対象物を回転させるとともに、ライン光を出射可能な形状測定器から同測定対象物に向かって測定対象物の回転軸に略平行にライン光を照射し、照射した光の反射光を受光することにより測定対象物の三次元形状を測定する三次元形状測定方法であって、 形状測定器が定義する座標系であって座標平面がライン光の照射平面と平行となるカメラ座標系と、一つの座標軸が測定対象物の前記回転軸と平行である基準座標系とのずれ量を検出するずれ量検出ステップと、 測定対象物を前記回転軸回りに回転させつつ、ライン光を前記形状測定器から測定対象物に向かって照射する照射ステップと、 測定対象物に照射したライン光の反射光を受光する受光ステップと、 測定対象物の所定の回転角度毎に前記受光ステップにて得られる受光情報に基づいて、ライン光が照射された測定対象物の表面上の位置を示す座標値を、前記カメラ座標系における座標値の群として前記所定の回転角度毎に取得する座標値取得ステップと、 前記座標値取得ステップにて前記所定の回転角度毎に取得した前記座標値の群を前記ずれ量に基づいて座標変換することにより得られる補正座標値の群を前記所定の回転角度毎に取得する座標変換ステップと、 前記座標変換ステップにて得られた前記所定の回転角度毎の前記補正座標値の群を前記所定の回転角度に基づいて合成し、測定対象物の立体的形状を示す合成座標値の群を取得する合成ステップと、 を含むことを特徴とする、三次元形状測定方法。
IPC (1件)：
G01B 11/24
FI (1件)：
G01B11/24 K
Fターム (21件)：
2F065AA04 ,  2F065AA20 ,  2F065AA21 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB07 ,  2F065CC00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065FF66 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065MM16 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ18
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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