特許
J-GLOBAL ID：200903022929669630

電気光学装置用基板及びその製造方法、並びに該電気光学装置用基板を備えた電気光学装置及び電子機器

発明者：
吉井 栄仁

吉井 栄仁 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-137533
公開番号（公開出願番号）：特開2004-341216
出願日： 2003年05月15日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：
【課題】液晶装置等の電気光学装置に用いられる電気光学装置用基板において、製品完成後や実装後にも、TEGを用いて検査できるようにする。【解決手段】電気光学装置用基板(200)は、基板(210)と、画像表示領域(10a)に形成された画像表示用の配線、電極及び電子素子のうち少なくとも一つと、周辺領域における基板の一辺に沿って該一辺の中央寄りに位置する第1領域(401)内に配列された外部回路接続用の複数の外部回路接続端子(102)と、周辺領域における第1領域に並んで位置する第2領域(402)内に配置されたTEG(300)とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
基板上の画像表示領域に形成された画像表示用の配線、電極及び電子素子のうち少なくとも一つと、 前記基板上で前記画像表示領域の周辺に位置する周辺領域における前記基板の一辺に沿って該一辺の中央寄りに位置する第1領域内に配列されており且つ前記配線、電極及び電子素子のうち少なくとも一つに夫々、直接又は間接に電気的に接続された外部回路接続用の複数の端子と、 前記周辺領域における前記一辺に沿った方向に前記第1領域に並んで位置する第2領域内に配置されており且つ前記配線、電極及び電子素子のうち少なくとも一つの少なくとも一部における電気的状態を模擬的に検査するためのテストエレメントグループと を備えたことを特徴とする電気光学装置用基板。
IPC (8件)：
G09F9/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1345 ,  G02F1/1368 ,  G09F9/30 ,  H05B33/02 ,  H05B33/10 ,  H05B33/14
FI (9件)：
G09F9/00 352 ,  G09F9/00 338 ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1345 ,  G02F1/1368 ,  G09F9/30 338 ,  H05B33/02 ,  H05B33/10 ,  H05B33/14 A
Fターム (44件)：
2H088FA11 ,  2H088HA05 ,  2H088MA20 ,  2H092GA41 ,  2H092GA44 ,  2H092GA50 ,  2H092GA52 ,  2H092GA59 ,  2H092JA24 ,  2H092JB77 ,  2H092NA30 ,  2H092PA01 ,  2H092RA05 ,  3K007AB18 ,  3K007CA00 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  5C094AA15 ,  5C094AA41 ,  5C094AA43 ,  5C094AA44 ,  5C094AA45 ,  5C094AA46 ,  5C094BA02 ,  5C094BA29 ,  5C094BA31 ,  5C094BA43 ,  5C094BA75 ,  5C094CA19 ,  5C094DA20 ,  5C094EA01 ,  5C094EA03 ,  5C094GB01 ,  5C094HA08 ,  5G435AA17 ,  5G435AA18 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435BB06 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10 ,  5G435LL08
引用特許：
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM