三次元形状計測システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：長谷川芳樹 , 黒川朋也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-059758
公開番号（公開出願番号）：特開2007-240197
出願日： 2006年03月06日
公開日（公表日）： 2007年09月20日
要約：

【課題】正確な三次元形状を高速に計測することが可能な三次元形状計測システムを提供すること。【解決手段】三次元形状計測システム1は、測定対象物10を搬送する搬送テーブル12と、スリット光を照射するスリット光源141〜149と、測定対象物10表面によるスリット光の反射光を映す反射鏡171〜179と、反射光を撮像するカメラ16と、撮像された反射光の像の位置に基づいて測定対象物10の三次元形状を算出するコンピュータ装置とを備えている。反射鏡171〜179は、スリット光の測定対象物10表面による反射光を、当該スリット光の長軸方向に沿って複数に分割し、当該分割された複数の反射光が長軸方向と垂直方向に配置されてカメラ16によって撮像されるように、形成されている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象物を所定の搬送方向に搬送する搬送テーブルと、前記搬送テーブルによって搬送されている前記測定対象物に対して、前記搬送方向と交差する方向に長軸が延びるスリット光を照射する照射手段と、前記照射手段から照射された前記スリット光の前記測定対象物表面による反射光を反射する反射手段と、前記反射手段を介して、前記スリット光の前記測定対象物表面による反射光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された前記反射光の像の形状に基づいて、前記測定対象物の三次元形状を算出する三次元形状算出手段と、を備え、前記反射手段は、前記スリット光の前記測定対象物表面による反射光を、当該スリット光の長軸方向に沿って複数に分割し、当該分割された複数の反射光が前記長軸方向と垂直方向に配置されて前記撮像手段によって撮像されるように、形成されていることを特徴とする三次元形状計測システム。

IPC (1件)：

G01B 11/24

FI (1件)：

G01B11/24 K

Fターム (26件)：

2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065BB15 , 2F065CC28 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065FF01 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065GG06 , 2F065GG13 , 2F065HH05 , 2F065HH12 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL04 , 2F065LL12 , 2F065LL14 , 2F065LL59 , 2F065MM03 , 2F065PP15 , 2F065QQ03 , 2F065QQ23 , 2F065QQ31 , 2F065SS13 , 2F065UU02

引用特許：

出願人引用 (5件)

3次元形状の認識方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-011083 出願人：松下電工株式会社
三次元形状認識装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-181454 出願人：三菱重工業株式会社
特開昭63-229313

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