特許
J-GLOBAL ID：200903023356285692
弱磁界発生装置および磁界センサの検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-319464
公開番号（公開出願番号）：特開2004-151056
出願日： 2002年11月01日
公開日（公表日）： 2004年05月27日
要約：
【課題】平面内で互いに90°異なる2つの方向の磁界に対して感度を有する磁気方位センサの特性を、高精度、且つ、容易にすばやく測定することのできる磁気方位センサの特性測定装置とその測定方法を得ることを目的とする。【解決手段】平面内で互いに90°異なる2つの方向の磁界に対して感度を有する地磁気方位センサに外部から磁界を印加する手段と、地磁気方位センサに電気信号を与える手段と、地磁気センサからの電気信号を受け取る手段と、その電気信号を解析ならびに判定する手段とを備えていることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
地磁気方位センサに磁界を印加するための磁界発生手段と、前記磁界を検知する検知用センサと、前記磁界発生手段を制御する制御手段を備え、
前記磁界発生手段は厚さが20mm以下であり、
前記検知用センサは前記地磁気方位センサの近傍に配置され、
前記制御手段は、前記検知用センサの出力と指令値とを比較し、前記地磁気方位センサに印加する磁界を発生若しくは変更することを特徴とする弱磁界発生装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C17/38 B
, G01R33/02 L
2G017AA03
, 2G017AA08
, 2G017AA16
, 2G017AB09
, 2G017AC01
, 2G017AC06
, 2G017AC09
, 2G017AD04
, 2G017AD07
, 2G017AD42
, 2G017AD53
, 2G017AD55
, 2G017BA02
, 2G017BA03
, 2G017BA05
, 2G017BA11
