特許

J-GLOBAL ID：200903023733762654

テラヘルツ光を用いた紙葉類の検査方法および検査装置

発明者： 井上 卓 ,  中島 透 ,  萩行 正憲 ,  谷 正彦 ,  北原 英明 ,  渋谷 享司
出願人/特許権者： グローリー株式会社 ,  国立大学法人大阪大学
代理人 (2件)： 稲岡 耕作 ,  川崎 実夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-155715
公開番号（公開出願番号）：特開2009-300279
出願日： 2008年06月13日
公開日（公表日）： 2009年12月24日
要約：

【課題】紙葉類、たとえば紙幣の厚みを非接触で検出したり、紙幣にテープ等の異物が貼られていることを非接触で検査できる方法および検査装置が望まれていた。【解決手段】この発明では、紙幣14の厚さを非接触で検査するのに、テラヘルツ光12を用いる。テラヘルツ光12は、紙幣14の厚さの数分の1〜数倍の波長のものを使用する。テラヘルツ光12を紙幣12の片面側141から照射し、紙幣14の表面141および裏面142で反射されるテラヘルツ反射光121、124を検出する。検出したテラヘルツ反射光は、表面で反射された反射光121および裏面で反射された反射光124を含んでいるから位相差を有する。そして位相差は干渉の強さとして検知できる。その結果、紙幣の厚さを正しく、非接触で検出することができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

テラヘルツ光を用いて紙葉類を検査する方法であって、 検査対象である紙葉類の厚さの数分の1〜数倍の波長のテラヘルツ光を紙葉類に対して照射し、 紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を検出し、 検出したテラヘルツ反射光の位相差による干渉の強さを検知して紙葉類の厚さを検出することを特徴とする紙葉類の検査方法。

IPC (4件)：

G01B 11/06 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/892 ,  G07D 7/12

FI (4件)：

G01B11/06 101G ,  G01N21/35 Z ,  G01N21/892 A ,  G07D7/12

Fターム (57件)：

2F065AA30 ,  2F065AA47 ,  2F065AA49 ,  2F065AA50 ,  2F065BB01 ,  2F065BB15 ,  2F065CC02 ,  2F065FF44 ,  2F065FF51 ,  2F065GG04 ,  2F065GG25 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ08 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ25 ,  2G051AA34 ,  2G051AB01 ,  2G051AC21 ,  2G051BA04 ,  2G051BA06 ,  2G051BA08 ,  2G051BA10 ,  2G051BB17 ,  2G051BC01 ,  2G051CB01 ,  2G051CC15 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  3E041AA01 ,  3E041AA02 ,  3E041AA05 ,  3E041AA09 ,  3E041BA04 ,  3E041BA13 ,  3E041BB03 ,  3E041CA01 ,  3E041CA03 ,  3E041CB03 ,  3E041DB04

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 実公平6-11992号公報
  
• 実用新案登録第2580615号公報
  
• 特許第2807073号公報
  
• 特許第3940336号公報
  

審査官引用 (4件)

• 特許第3940336号
  
• 紙葉類の異物判別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-342926   出願人：グローリー工業株式会社
• 紙葉類良否判別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-021996   出願人：株式会社東芝
• 付着物判別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-002102   出願人：株式会社東芝