特許
J-GLOBAL ID：200903024750913956
絶縁検査方法および絶縁検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-267836
公開番号（公開出願番号）：特開2006-084249
出願日： 2004年09月15日
公開日（公表日）： 2006年03月30日
要約：
【課題】絶縁不良箇所の劣化や破壊を確実に回避しつつ絶縁検査を行い得る絶縁検査方法を提供する。【解決手段】検査対象体における一対の導体パターン31,32の間に検査用電圧を印加して一対の導体パターン31,32の絶縁を検査する際に、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、検査用電圧の印加に応じて一対の導体パターン31,32の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定値が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加して当該一対の検査部位の絶縁を検査する際に、
検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、当該検査用電圧の印加に応じて前記一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定値が所定値に達するときに前記検査用電圧の出力を停止する絶縁検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G01R 27/08
, H05K 3/00
G01R31/02
, G01R27/08
, H05K3/00 T
2G014AA03
, 2G014AA15
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G028BC01
, 2G028CG03
, 2G028DH03
, 2G028DH10
, 2G028FK01
, 2G028FK02
, 2G028FK08
, 2G028HN07
, 2G028HN12
, 2G028MS05
出願人引用 (1件)
審査官引用 (6件)
全件表示
前のページに戻る
