特許
J-GLOBAL ID:200903024933271481
検査装置、検査プログラム、検査方法、制御装置、制御プログラム、及び、制御方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
吉田 研二
, 石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-014196
公開番号(公開出願番号):特開2005-208890
出願日: 2004年01月22日
公開日(公表日): 2005年08月04日
要約:
【課題】印刷画像を読み取って得た検査画像データに基づいて印刷画像の欠陥検査を行い、欠陥の見つかった検査画像データをセキュリティを考慮して保管する。【解決手段】欠陥検査(S31)を行った後に、検査結果を記した履歴情報、及び、セキュリティ情報として削除が必要か否かを与える機密レベル情報を取得する(S34)。そして、欠陥検出の有無を調べ(S36)、欠陥が検出されない場合には、検査画像データを削除し履歴情報に削除した旨を記録する(S40)。一方、欠陥が検出された場合には、機密レベル情報に応じたセキュリティ処理として削除処理をするか否かを判定する(S38)。削除する場合にはS40の処理を行い、削除しない場合には検査画像データを保管してその旨を履歴情報に記録する(S42)。セキュリティ処理としては、暗号化処理、文字に対する処理、部分的な領域に対する処理などを行うこともできる。【選択図】図6
請求項(抜粋):
印刷画像の読み取り処理により得られた検査画像データ、及び、その検査画像データのセキュリティ情報を取得する取得手段と、
前記検査画像データを用いて前記印刷画像の欠陥検査を行う検査手段と、
前記欠陥検査により画像欠陥が検出された検査画像データである欠陥検査画像データの保管処理において前記セキュリティ情報に基づいたセキュリティ処理を行うか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に従って前記欠陥検査画像データの保管処理を行う保管処理手段と、
を備える、ことを特徴とする検査装置。
IPC (12件):
G06T1/00
, B41F33/00
, B41F33/02
, B41F33/14
, B41J5/30
, B41J29/00
, B41J29/46
, G01B11/30
, G01N21/88
, G06F3/12
, G06F12/14
, H04N1/387
FI (13件):
G06T1/00 200D
, G06T1/00 310A
, B41F33/00 S
, B41F33/02 Z
, B41J5/30 Z
, B41J29/46 A
, G01B11/30 A
, G01N21/88 J
, G06F3/12 K
, G06F12/14 320D
, H04N1/387
, B41F33/14 G
, B41J29/00 Z
Fターム (69件):
2C061AP01
, 2C061AP03
, 2C061AP04
, 2C061AP07
, 2C061AQ05
, 2C061BB17
, 2C061CL10
, 2C061KK18
, 2C061KK26
, 2C061KK28
, 2C187AC08
, 2C187AD03
, 2C187AD04
, 2C187AD14
, 2C187AE07
, 2C187AF03
, 2C187BF26
, 2C187FA01
, 2C187GD01
, 2C250EA12
, 2C250EA13
, 2C250EB39
, 2F065AA01
, 2F065AA49
, 2F065AA56
, 2F065BB02
, 2F065CC02
, 2F065FF04
, 2F065FF61
, 2F065JJ03
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065SS04
, 2F065SS11
, 2F065UU05
, 2G051AB02
, 2G051ED00
, 5B017AA07
, 5B017BA08
, 5B017CA16
, 5B021AA01
, 5B021AA19
, 5B021NN00
, 5B050AA09
, 5B050BA10
, 5B050BA16
, 5B050BA20
, 5B050CA05
, 5B050DA04
, 5B050DA10
, 5B050GA07
, 5B050GA08
, 5B057AA12
, 5B057BA02
, 5B057CA02
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE08
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DC33
, 5C076AA14
, 5C076BA03
, 5C076BA06
, 5C076BA09
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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