特許
J-GLOBAL ID：200903025501003865

画像表示装置およびその検査方法

発明者：
長多 剛

長多 剛 について


出願人/特許権者：
株式会社半導体エネルギー研究所

株式会社半導体エネルギー研究所 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-409668
公開番号（公開出願番号）：特開2004-199054
出願日： 2003年12月08日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：
【課題】 画像表示装置において、少ない占有面積で簡単かつ確実な検査回路及び検査方法を提供する。【解決方法】 画素部周辺に配置してあるダミー画素の一部を変更し検査回路にすることで、多くのプローブピンを用いた検査機や複雑な追加回路を必要とせず、しかも少ない占有面積で、データ信号線および走査線の断線等の検査や画素制御の検査を簡単かつ確実に行ことができ、これにより安価にパネルを生産することができることを特徴とする。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、 前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第1の画素回路と、第2の画素回路とを有し、 前記第1の画素回路および前記第2の画素回路はそれぞれ、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、 前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、 前記第1の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、 前記第2の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、前記電流供給線と検査出力端子との間に設けられたことを特徴とする画像表示装置。
IPC (6件)：
G09G3/20 ,  G02F1/13 ,  G02F1/136 ,  G09G3/30 ,  H05B33/12 ,  H05B33/14
FI (9件)：
G09G3/20 670Q ,  G09G3/20 621J ,  G09G3/20 624B ,  G09G3/20 641D ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/136 ,  G09G3/30 Z ,  H05B33/12 Z ,  H05B33/14 A
Fターム (19件)：
2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088HA05 ,  2H088HA06 ,  2H092JB77 ,  2H092NA30 ,  3K007AB17 ,  3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007DB03 ,  3K007GA00 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD28 ,  5C080FF11 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ03 ,  5C080JJ04
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 液晶表示装置とその検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-309395   出願人：シャープ株式会社
  • 液晶表示装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-075574   出願人：キヤノン株式会社
  • 特許第2618042号公報
審査官引用 (9件)
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