画像検査方法および画像検査装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：宮田金雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-271459
公開番号（公開出願番号）：特開平11-110560
出願日： 1997年10月03日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：

【要約】【課題】画像を用いた製品の傷や汚れの検査において、製品に規則的な模様等がある場合にも正確な検査を行う。【解決手段】選択された領域内の部分画像データから輝度ヒストグラム等の1次画像特徴量と同時生起行列等の2次画像特徴量を計算し、それらの情報をデータ圧縮して組合わせた縮退特徴ベクトルを計算し、これをあらかじめ学習させておいた良品および不良品データと比較して良品、不良品の判別の判定を行う。

請求項（抜粋）：

対象物の映像信号から得られた濃淡画像の部分領域を選択し、前記選択された部分領域に対して輝度階調を圧縮した部分画像データを作成し、前記部分画像データに対して2次画像特徴量および1次画像特徴量を計算し、前記2次画像特徴量および1次画像特徴量をデータ圧縮してデータ量の少ない縮退特徴ベクトルを計算し、,前記縮退特徴ベクトルを、予め学習させておいた良品にもとずくデータまたはあらかじめ学習させておいた不良品にもとずくデータと比較してデータ間の近似度の指標である出力ベクトルを計算し、前記出力ベクトルを用いて対象物の良不良を判定することを特徴とする画像検査方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 , G01N 21/88 , G09G 5/00 510

FI (3件)：

G06F 15/62 410 Z , G01N 21/88 J , G09G 5/00 510 D

引用特許：

出願人引用 (11件)

欠陥検査方法とその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-102755 出願人：松下電器産業株式会社
監視装置および監視方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-216415 出願人：バブコック日立株式会社
特開平4-038454

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