特許
J-GLOBAL ID:200903027192537852
X線画像処理フィルタ自動設定方法,X線異物検出方法及びX線異物検出装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西村 教光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-188074
公開番号(公開出願番号):特開2004-028891
出願日: 2002年06月27日
公開日(公表日): 2004年01月29日
要約:
【課題】オペレータの経験に依存せずに、検査対象の被検査物に最適なX線画像処理フィルタを自動設定する。【解決手段】X線画像処理フィルタ自動設定方法は、異物が混入されていない良品VにX線を曝射するX線曝射工程と、X線の曝射に伴って良品Vを透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データSを出力するX線強度データ出力工程と、良品Vの前記X線強度データSに異物を強調するための複数種類のX線画像処理フィルタFにより画像処理をしてX線画像処理フィルタF毎にX線画像データIvを生成するX線画像データ生成工程と、生成されたX線画像データIvに基づいて最適なX線画像処理フィルタFaを抽出するフィルタ抽出工程と、を備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
異物が混入されていない良品(V)にX線を曝射するX線曝射工程と、
前記X線の曝射に伴って前記良品を透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データ(S)を出力するX線強度データ出力工程と、
前記良品の前記X線強度データに対して、前記異物を強調するための複数種類のX線画像処理フィルタ(F)により画像処理をして、前記X線画像処理フィルタ毎にX線画像データ(Iv)を生成するX線画像データ生成工程と、
該生成されたX線画像データに基づいて最適なX線画像処理フィルタ(Fa)を抽出するフィルタ抽出工程と、
を備えることを特徴とするX線画像処理フィルタ自動設定方法。
IPC (3件):
G01N23/04
, G06T1/00
, G06T5/20
FI (3件):
G01N23/04
, G06T1/00 280
, G06T5/20 A
Fターム (36件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA08
, 2G001FA06
, 2G001GA06
, 2G001HA07
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001HA20
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001LA02
, 2G001LA03
, 2G001LA06
, 2G001PA11
, 5B057AA15
, 5B057BA03
, 5B057BA26
, 5B057BA30
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC02
, 5B057CE06
, 5B057CH18
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
引用特許:
審査官引用 (4件)
-
異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-382344
出願人:株式会社島津製作所
-
画像処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-329753
出願人:コニカ株式会社
-
回路パターンの検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-208749
出願人:株式会社日立製作所
前のページに戻る