特許
J-GLOBAL ID:200903027217196818

光学部材検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 遠山 勉 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-220831
公開番号(公開出願番号):特開平9-061291
出願日: 1995年08月29日
公開日(公表日): 1997年03月07日
要約:
【要約】【課題】 光学部材の屈折率(屈折力)異常と光学部材表面の欠陥とを同時に表示し、光学部材の欠陥を強調し、欠陥の種類・程度をも示すことができる光学部材検査装置を、提供する。【解決手段】白色ランプ1から出射された白色光は、光ファイバー束3内を伝えられ、拡散板5に照射される。この拡散板5の表面には、遮光パターン6aが印刷された遮光板6が貼り付けられている。従って、この遮光パターン6aが裏側から照明される。この遮光パターン6aの位置は、検査対象光学部材としての凸レンズAの焦点位置と一致している。従って、遮光パターン6aのエッジ部分から発散されつつ凸レンズAに入射した白色光は、この凸レンズAによって平行光にされて撮像装置7に入射する。撮像装置7内における撮像レンズ8の位置が適宜調整されているので、この状態では、均一濃度の映像が撮像される。しかし、屈折率の異常が生じた箇所では、画像の濃淡が変化して見える。
請求項(抜粋):
光学部材の光学的欠陥を検出する光学部材検査装置であって、照明光によって照明される拡散板と、この拡散板によって拡散された光を部分的に透過させるとともに部分的に遮光する前記拡散板に固着された遮光手段とを備えるとともに、前記光学部材を含む光学系の焦点位置を前記遮光手段の位置と一致させたことを特徴とする光学部材検査装置。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G01M 11/02
FI (2件):
G01M 11/00 L ,  G01M 11/02 B
引用特許:
出願人引用 (3件)

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