特許
J-GLOBAL ID：200903027452263930
イオントラップ/飛行時間型質量分析計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
作田 康夫
, 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-426101
公開番号（公開出願番号）：特開2005-183328
出願日： 2003年12月24日
公開日（公表日）： 2005年07月07日
要約：
【課題】 イオントラップから排出される不要イオンの影響を除去することのできるイオントラップ/飛行時間型質量分析計を提供する。【解決手段】 イオン源と、イオントラップと、多重極イオンガイドと、飛行時間型質量分析計とで構成され、前記イオントラップと前記多重極イオンガイド間に、イオンが通過する細孔を備え、且つ電圧の印加によってイオンの通過を制御する第1のゲート電極を備え、前記多重極イオンガイドと前記飛行時間型質量分析計の間に、イオンが通過する細孔を備え、且つ電圧の印加によってイオンの通過を制御する第2のゲート電極を備え、前記多重極イオンガイド、及び前記第1及び第2のゲート電極に印加される電圧を制御して、イオンが前記多重極イオンガイドを通過できなくなる期間と前記多重極イオンガイドをイオンが通過可能な期間を選択的に設けるようにした。【効果】 化学ノイズのない質量スペクトルを得ることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料をイオン化するイオン源と、リング電極と一対のエンドキャップ電極を備え、前記イオン源から排出されたイオンを蓄積するイオントラップと、複数の円柱状電極から成り、前記イオントラップから排出されたイオンが導入される多重極イオンガイドと、前記多重極イオンガイドから排出されたイオンが導入される飛行時間型質量分析計とで構成され、
前記イオントラップと前記多重極イオンガイド間に、イオンが通過する細孔を備え、且つ電圧の印加によってイオンの通過を制御する第1のゲート電極を備え、
前記多重極イオンガイドと前記飛行時間型質量分析計の間に、イオンが通過する細孔を備え、且つ電圧の印加によってイオンの通過を制御する第2のゲート電極を備え、
前記多重極イオンガイド、及び前記第1及び第2のゲート電極に印加される電圧を制御して、イオンが前記多重極イオンガイドを通過できなくなる期間と前記多重極イオンガイドをイオンが通過可能な期間を選択的に設けるようにしたことを特徴とするイオントラップ/飛行時間型質量分析計。
IPC (3件)：
H01J49/06
, G01N27/62
, H01J49/40
H01J49/06
, G01N27/62 G
, G01N27/62 K
, G01N27/62 L
, H01J49/40
