特許
J-GLOBAL ID:200903027889510570
有機微量成分の検出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
光石 俊郎
, 光石 忠敬
, 田中 康幸
, 松元 洋
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-234674
公開番号(公開出願番号):特開2004-077176
出願日: 2002年08月12日
公開日(公表日): 2004年03月11日
要約:
【課題】PCB処理設備から排出される処理水中の例えばPCB、ダイオキシン類等の有機微量成分の検出装置を提供することを課題とする。【解決手段】採取試料11を真空チャンバー12内へ連続的に導入する試料導入手段13と、導入された試料11をイオン化部14aにてイオン化させるイオン化手段14と、該イオン化した分子収束させるイオン収束部15と、該収束されたイオン分子16をリフレクタ17で反射した後検出するイオン検出器18を備えた飛行時間型質量分析装置19とを具備してなる有機微量成分の検出装置において、イオン化手段14が導入された試料に真空紫外レーザ光21を照射してレーザイオン化させる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
採取試料を真空チャンバー内へ導入する試料導入手段と、
導入された試料をイオン化させるイオン化手段と、
該イオン化した分子を収束させるイオン収束部と、
該収束されたイオン分子を検出するイオン検出器を備えた飛行時間型質量分析装置とを具備してなる有機微量成分の検出装置において、
イオン化手段が導入された試料に真空紫外レーザ光又は極端紫外レーザ光を照射してレーザイオン化させることを特徴とする有機微量成分の検出装置。
IPC (7件):
G01N27/62
, G01N27/64
, G01N30/72
, G01N30/88
, H01J49/04
, H01J49/10
, H01J49/40
FI (12件):
G01N27/62 V
, G01N27/62 C
, G01N27/62 F
, G01N27/62 K
, G01N27/62 X
, G01N27/64 B
, G01N30/72 A
, G01N30/72 C
, G01N30/88 C
, H01J49/04
, H01J49/10
, H01J49/40
Fターム (11件):
5C038EE01
, 5C038EE02
, 5C038EF03
, 5C038EF04
, 5C038GG07
, 5C038GH02
, 5C038GH04
, 5C038GH05
, 5C038GH10
, 5C038GH13
, 5C038GH15
引用特許:
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