特許
J-GLOBAL ID:200903027899076835
金属フィルムを完全に平面化するための同期モデュレ-ションバイアススパッタ方式及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-114605
公開番号(公開出願番号):特開平8-070004
出願日: 1995年05月12日
公開日(公表日): 1996年03月12日
要約:
【要約】【目的】 ウエハの加熱を抑制し生産歩留まりを高める。【構成】 基板上に平面化された金属フィルムを作るための方法であり、基板上に金属の薄い膜を堆積する工程と、その薄い膜が堆積された後、その堆積された薄い金属フィルム内に空所を生じさせ、その堆積された薄いフィルムの金属原子の可動性を高める工程と、その堆積された薄い金属フィルム内に空所を生じさせた後であって更に多くの金属を堆積させる前に、その薄い金属フィルム内の金属を再流動させるためにその堆積された薄いフィルムの表面を加熱する工程と、所定の厚さを有する金属層が形成されるまで上記一連の工程を繰り返す工程とを含む。
請求項(抜粋):
基板上に平面化された金属フィルムを作るための方法であって、前記基板上に金属の薄いフィルムを堆積する工程と、前記堆積された薄いフィルムの金属原子の可動性を増すために前記堆積された薄い金属フィルム内に空所を発生させる工程と、前記薄い金属フィルム内に前記金属の再流動を生じさせるために前記堆積された薄いフィルムの表面を加熱する工程と、所定の厚さを有する金属層が形成されるまで上記一連の工程を多数回繰り返す工程とを含む方法。
IPC (4件):
H01L 21/3205
, C23C 14/58
, C23F 4/00
, H01L 21/203
引用特許:
審査官引用 (9件)
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特開昭63-141348
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特開平2-138456
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-068276
出願人:株式会社東芝
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特開昭62-069534
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薄膜形成法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-088907
出願人:株式会社日立製作所
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薄膜形成法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-060325
出願人:株式会社日立製作所
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薄膜の形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-105768
出願人:株式会社東芝
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特開昭61-153275
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特開昭61-261472
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