アレー型電子部品の検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高橋勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-129577
公開番号（公開出願番号）：特開2001-311757
出願日： 2000年04月28日
公開日（公表日）： 2001年11月09日
要約：

【要約】【課題】アレー型コンデンサの検査装置の構成を簡略化する。【解決手段】複数のコンデンサ素子C11〜C14を並列に配置したアレー型コンデンサC1を複数配置し、マトリクス状に並んだ各コンデンサ素子C11,...の検査を順次行なう。各コンデンサ素子C11,...は、切り換えスイッチ21,22の操作によって、ただ一つが測定器23に接続される。切り換えスイッチ21,22を順次切り換えることにより、各コンデンサ素子C11,...の全てを検査することができる。

請求項（抜粋）：

複数の電子素子と、それぞれの前記電子素子に個別に設けられた複数の個別端子と、全ての前記電子素子に共通に設けられた一つの共通端子とを有するアレー型電子部品について、それぞれの前記電子素子を電気的に検査するアレー型電子部品の検査装置において、一方の検査端子と他方の検査端子との間に電気的に接続された電子素子を電気的に検査する検査部と、複数のアレー型電子部品について複数の共通端子のうちの一つを選択して前記一方の検査端子に電気的に接続する共通端子選択部と、前記複数のアレー型電子部品のそれぞれについて同じ位置の個別端子を全て選択して前記他方の検査端子に電気的に接続する個別端子選択部と、を備えたことを特徴とするアレー型電子部品の検査装置。

IPC (7件)：

G01R 31/00 , G01R 27/02 , G01R 27/26 , G01R 29/22 , G01R 31/26 , H01G 13/00 361 , H01G 13/00

FI (9件)：

G01R 31/00 , G01R 27/02 R , G01R 27/02 A , G01R 27/26 C , G01R 29/22 G , G01R 31/26 Z , H01G 13/00 361 C , H01G 13/00 361 D , H01G 13/00 361 Z

Fターム (36件)：

2G003AA01 , 2G003AA04 , 2G003AB05 , 2G003AB06 , 2G003AB07 , 2G003AE01 , 2G003AE02 , 2G003AF01 , 2G003AF06 , 2G003AH04 , 2G028AA02 , 2G028BB06 , 2G028CG03 , 2G028CG07 , 2G028CG08 , 2G028DH03 , 2G028DH05 , 2G028DH11 , 2G028FK01 , 2G028FK02 , 2G028HN07 , 2G036AA03 , 2G036AA04 , 2G036AA21 , 2G036AA27 , 2G036BB01 , 2G036BB02 , 2G036BB09 , 2G036BB10 , 2G036BB11 , 2G036CA01 , 5E082AB03 , 5E082CC03 , 5E082CC17 , 5E082MM35 , 5E082MM36

引用特許：

出願人引用 (10件)

特開平2-184769
抵抗測定方法及び装置と電子源の製造方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-088964 出願人：キヤノン株式会社
抵抗測定方法とその装置及び該装置を用いたマルチ電子源の製造方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-265384 出願人：キヤノン株式会社

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