特許
J-GLOBAL ID：200903028694256349

外観検査装置

発明者：
山村 辰男

山村 辰男 について

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外山 公一

外山 公一 について

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渡邉 亮

渡邉 亮 について


出願人/特許権者：
富士電機株式会社

富士電機株式会社 について


代理人 (1件)： 篠部 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-144864
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057190
出願日： 2002年05月20日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：
【要約】【課題】飲料容器などの被検査物上の濃度レベルの低い黒色印刷部の印刷ハゲ等の欠陥検査をデジタル画像処理で行うため、被検査物の撮像画像から暗部領域の検査対象画素を抽出する検査マスク画像を自動生成する。【解決手段】良品の被検査物を撮像して得た良品画像内のエッジ部を二次元微分処理によって検出し、エッジ画素を画像の変動に応じ膨張させてエッジマスク画像30Mを生成し(S1〜S3a)、別に良品画像を固定2値化して暗部領域を抽出した暗部ウィンドウ画像30Dを求め(S3b)、画像の変動に応じ暗部ウィンドウ画像30Dを縮小したのち(S3c)、暗部ウィンドウ画像30Dの論理を反転してエッジマスク画像30Mとの論理和を求めることで、暗部領域の画素から暗部領域内の絵柄のエッジ画素を除いた画素を検査対象画素として抽出できる検査マスク画像30Tを得る(S3d)。
請求項（抜粋）：
被検査物上に付され、所定の濃淡分布を持つて形成された絵柄を撮像し、この撮像によって得られた該絵柄の映像をA/D変換して該絵柄に対応するデジタル画像(以下被検査画像という)を生成し、該被検査画像の濃度情報を処理して該被検査画像上の汚れ、印刷抜け等の欠陥を検出し、被検査物の良否を判定する外観検査装置であって、予め良品と判定された被検査物の前記被検査画像上の所定値以上の濃度勾配を持つ部分としてのエッジを二次元微分処理により検出し、この検出によって得られた全てのエッジ画素を、被検査物の形状等に応じて前記被検査画像内に設定された1または複数の個別検査領域ごとに、N画素分(但し、Nは当該個別検査領域に応じて定められた0を含む整数とする)、膨張させてなるエッジマスク画像を生成する手段と、本来の被検査物から得た前記被検査画像を前記エッジマスク画像により、この両画像に対応する絵柄の位置が合致するようにマスクし、このマスク後の前記被検査画像を対象として前記の欠陥検出を行う欠陥検出手段とを備えたことを特徴とする外観検査装置。
Fターム (17件)：
2G051AA11 ,  2G051AB07 ,  2G051AC21 ,  2G051BB17 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED08 ,  2G051ED14
引用特許：
審査官引用 (4件)
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