特許
J-GLOBAL ID:200903028791558325

超音波診断装置の評価方法および評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 奥田 誠司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-139161
公開番号(公開出願番号):特開2003-325522
出願日: 2002年05月14日
公開日(公表日): 2003年11月18日
要約:
【要約】【課題】 超音波診断装置による測定対象物の変位量の確かさをミクロンオーダの精度で評価することが可能な評価方法および評価装置を提供する。【解決手段】 音響インピーダンスおよび屈折率が実質的に異なる2つの物質の第1の界面5と第2の界面6との距離を変化させながら、第1の界面5と第2の界面6との間の距離を光学的距離測定装置21および超音波診断装置41によって測定するステップと、光学的距離測定装置21による測定結果を基準として超音波診断装置41の計測結果から超音波診断装置41の評価を行うステップとを包含する超音波診断装置の評価方法。
請求項(抜粋):
音響インピーダンスおよび屈折率が実質的に異なる物質の第1の界面と第2の界面との距離を変化させながら、前記第1の界面と前記第2の界面との間の距離を光学的距離測定装置および超音波診断装置によって測定するステップと、前記光学的距離測定装置による測定結果を基準として前記超音波診断装置の計測結果から前記超音波診断装置の評価を行うステップと、を包含する超音波診断装置の評価方法。
IPC (6件):
A61B 8/08 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/06 ,  G01B 17/00 ,  G01S 7/52 ,  G01S 15/89
FI (6件):
A61B 8/08 ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/06 Z ,  G01B 17/00 B ,  G01S 15/89 B ,  G01S 7/52 U
Fターム (50件):
2F065AA06 ,  2F065AA30 ,  2F065BB01 ,  2F065BB15 ,  2F065BB22 ,  2F065BB23 ,  2F065FF11 ,  2F065FF31 ,  2F065GG04 ,  2F065GG06 ,  2F065GG22 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ09 ,  2F065LL46 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ25 ,  2F068AA06 ,  2F068BB01 ,  2F068DD04 ,  2F068DD12 ,  2F068FF04 ,  2F068FF12 ,  2F068FF14 ,  2F068GG01 ,  2F068HH01 ,  2F068KK12 ,  2F068TT07 ,  4C301AA02 ,  4C301DD01 ,  4C301DD06 ,  4C301DD21 ,  4C301EE11 ,  4C301HH54 ,  4C301JB03 ,  4C301JB04 ,  4C301JB38 ,  4C301JB50 ,  4C301LL17 ,  5J083AA02 ,  5J083AB17 ,  5J083AC26 ,  5J083AC28 ,  5J083AC29 ,  5J083AD04 ,  5J083AE10 ,  5J083AG05 ,  5J083BA01 ,  5J083CA01 ,  5J083FA10
引用特許:
審査官引用 (6件)
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