特許
J-GLOBAL ID:200903029065360920
自動分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (6件):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-008433
公開番号(公開出願番号):特開2005-201771
出願日: 2004年01月15日
公開日(公表日): 2005年07月28日
要約:
【課題】 撹拌板等に付着した前回の試料を十分に取り除くことで、精度の高い分析処理を実行することができる自動分析装置を提供すること。【解決手段】 当該試料aと試薬TPとの撹拌が終わった後次の試料bに関する攪拌作業の前において、反応管a内での攪拌板の洗浄を実行する(時刻t6)。また、当該試料aの分注処理が終了した後次の試料bに関する分注処理の前において、反応管内での試料分注プローブの洗浄を実行することも可能である。これにより、攪拌板又は試料分注プローブに付着した現在の試料を、次の試料に関する分析処理に持ち込むこと(キャリーオーバー)を防止することができる。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
試料と試薬とを反応させその反応結果を測定し分析する分析動作を、複数の試料について順次実行する自動分析装置であって、
複数の試料を格納する試料容器と、
複数の測定項目に対応する複数の試薬を格納する試薬容器と、
試料を試薬とを混合し反応させるための反応管と、
前記反応管を移動させる反応管移動機構と、
前記試料容器から試料を吸引し、前記反応容器に吐出する分注動作を実行する第1の分注手段と、
前記試薬容器から試薬を吸引し、前記反応容器に吐出する分注動作を実行する第2の分注手段と、
前記反応管に分注された試料及び試薬を撹拌する撹拌手段と、
前記反応管内において、試料に接触する当該自動分析装置の所定の部位を洗浄する洗浄機構と、
前記反応管移動機構、前記第1の分注手段、前記第2の分注手段、前記撹拌手段、前記洗浄機構の動作を制御する制御手段と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件):
FI (4件):
G01N35/02 G
, G01N35/02 D
, G01N35/02 E
, G01N35/06 A
Fターム (8件):
2G058CB05
, 2G058CD05
, 2G058CE08
, 2G058FA02
, 2G058FB03
, 2G058FB05
, 2G058FB12
, 2G058GE03
引用特許:
審査官引用 (6件)
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-028906
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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臨床用自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-261789
出願人:株式会社島津製作所
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洗浄機能付き自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-002616
出願人:株式会社日立製作所
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特開昭63-088461
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-010484
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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特開昭63-088461
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