特許
J-GLOBAL ID：200903029209555127

テープ体検査装置

発明者：
谷本 明徳

谷本 明徳 について


出願人/特許権者：
TDK株式会社

TDK株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-208777
公開番号（公開出願番号）：特開2005-069708
出願日： 2003年08月26日
公開日（公表日）： 2005年03月17日
要約：
【課題】使用上問題な表面欠陥を確実に検出しつつ、テープ体を原材料とする情報記録媒体の製造歩留まりを向上し得るテープ体検査装置を提供する。【解決手段】磁気テープ10をその長手方向に沿って移動させる移動機構2と、磁気テープ10に検査用の光を照射すると共にその表面10aで反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する表面検査部4と、出力された光検出信号に基づいて磁気テープ10の表面欠陥を検出すると共にその検出結果に基づいて磁気テープ10の良否を判別する制御部8と、磁気テープ10をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部9とを備え、制御部8は、検出した各検査領域毎の表面欠陥の検出結果と、記憶されている各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて各検査領域毎に磁気テープ10の良否を判別する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
情報記録媒体用のテープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記テープ体の表面に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体の表面で反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する受光部と、当該出力された光検出信号に基づいて前記テープ体の表面欠陥を検出する欠陥検出部と、当該欠陥検出部による検出結果に基づいて前記テープ体の良否を判別する判別部と、前記テープ体をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部とを備え、 前記判別部は、前記欠陥検出部によって検出された前記各検査領域毎の前記表面欠陥の検出結果と、前記記憶されている前記各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて当該各検査領域毎に前記テープ体の良否を判別するテープ体検査装置。
IPC (2件)：
G01N21/892 ,  G11B5/84
FI (2件)：
G01N21/892 A ,  G11B5/84 C
Fターム (10件)：
2G051AA32 ,  2G051AB02 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051FA00 ,  5D112JJ03 ,  5D112JJ05
引用特許：
審査官引用 (3件)

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