特許
J-GLOBAL ID：200903029589853249

質量分析装置および異性体分析方法

発明者：
緒方 いずみ

緒方 いずみ について

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伊藤 伸也

伊藤 伸也 について

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西村 紳一郎

西村 紳一郎 について

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出口 喜三郎

出口 喜三郎 について

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武川 泰啓

武川 泰啓 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-151149
公開番号（公開出願番号）：特開2005-331421
出願日： 2004年05月21日
公開日（公表日）： 2005年12月02日
要約：
【課題】 分離手段での分離が困難で、且つMSでも識別不可能な混合化合物においても、その存在比を明らかにする。【解決手段】 試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するMSn 分析を行う質量分析装置において、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納されたデータベースを備えたことである。【効果】 光学異性体同士のように分離手段での分離が困難で、MSでも識別不可能な混合試料中の異性体比を明らかにすることができる。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するMSn分析を行う質量分析装置において、 複数の化合物の各保持時間情報が記憶された第1のデータベースと、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納された第2のデータベースとを備え、 上記各データベースを用いて試料中に異性体が含まれるか否かを判別し、異性体が含まれる場合は、異性体間の存在比を算出することを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件)：
G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N30/72 ,  G01N30/88
FI (7件)：
G01N30/86 J ,  G01N30/86 G ,  G01N30/86 M ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  G01N30/72 C ,  G01N30/88 N
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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