特許
J-GLOBAL ID:200903029812856670
誘電体薄膜をCVD形成するための金属アミド前駆体およびアミノシラン前駆体
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
稲葉 良幸
, 田中 克郎
, 大賀 眞司
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-577835
公開番号(公開出願番号):特表2004-529495
出願日: 2002年03月27日
公開日(公表日): 2004年09月24日
要約:
式M(NR1R2)xまたは(I)〔式中、Mは、Zr、Hf、Z、La、ランタニド系列元素、Ta、Ti、またはAlであり、Nは窒素であり、R1およびR2のそれぞれは、同一であるかまたは異なっており、独立して、H、アリール、ペルフルオロアリール、C1〜C8アルキル、C1〜C8ペルフルオロアルキル、アルキルシリルから選択され、xは金属Mの酸化状態である。〕で示される金属アミド化合物と、式HxSiAy(NR1R2)4-x-yまたは(II)〔式中、Hは水素であり、xは0〜3であり、Siはケイ素であり、Aはハロゲンであり、Yは0〜3であり、Nは窒素であり、R1およびR2のそれぞれは、同一であるかまたは異なっており、独立して、H、アリール、ペルフルオロアリール、C1〜C8アルキル、およびC1〜C8ペルフルオロアルキルからなる群より選択され、nは1〜6である。〕で示されるアミノシラン化合物と、を用いて、基板上にゲート誘電体薄膜を形成するCVD法。標準的なSiO2ゲート誘電体材料と比較して、これらのゲート誘電体材料を用いると、炭素およびハロゲン化物の不純物レベルが低くなる。
請求項(抜粋):
基板上に薄膜誘電体を形成するためのCVD前駆体組成物であって、
M(NR1R2)xおよび
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (22件):
4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030AA11
, 4K030AA14
, 4K030BA01
, 4K030BA10
, 4K030BA17
, 4K030BA18
, 4K030BA22
, 4K030BA42
, 4K030BA44
, 4K030CA04
, 4K030CA12
, 4K030EA03
, 4K030FA10
, 4K030JA10
, 5F058BA05
, 5F058BC03
, 5F058BF06
, 5F058BF27
, 5F058BF29
, 5F058BJ04
引用特許: