特許
J-GLOBAL ID：200903029954200373

距離計測方法および距離計測機能を有する画像入力装置

発明者：
七夕 高也

七夕 高也 について

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中島 啓介

中島 啓介 について

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小西 義治

小西 義治 について

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松山 隆司

松山 隆司 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 三品 岩男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-183659
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004441
出願日： 2001年06月18日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】高精度な焦点制御機構を持つことなく、安定かつ高精度に対象の距離計測を行うことができる技術を提供する。【解決手段】 光が2以上の異なる通過位置を通過するよう規制する光通過位置規制手段110と、光通過手段110を通過した光を収束するレンズ系210と、このレンズ系210によって収束された光から画像を取り込む撮像素子240を有する画像取込手段と、異なる通過位置を通過した光による画像を用いて、撮像素子240から対象物までの距離を演算する距離演算手段350とを備える。光通過位置規制手段110は、特定の位置のみ通過するよう規制する。
請求項（抜粋）：
対象物の画像を光学的に取り込んで撮像素子により撮像して、撮像素子から対象物までの距離を計測するための距離計測方法において、撮像素子からの距離が既知の対象物からの光を、異なる通過位置を通過させて、それぞれ前記撮像素子の撮像面に投影させ、前記異なる通過位置を介して投影された画像の撮像面上での変位量を、撮像素子から対象物までの距離を変えて取得し、得られた前記撮像素子から対象物までの距離値と前記変位量との対応関係を示す情報を予め記憶しておき、距離を計測すべき対象物からの光を、前記異なる通過位置を通過させて、それぞれ前記撮像素子の撮像面に投影させ、前記異なる通過位置を介して投影された画像の撮像面上での変位量を検出し、前記撮像素子から対象物までの距離と前記変位量との対応関係を示す情報から、検出された変位量に対応する撮像素子から対象物までの距離を求めることを特徴とする距離計測方法。
IPC (5件)：
G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 430 ,  H04N 1/19
FI (5件)：
G01C 3/06 V ,  G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 430 J ,  H04N 1/04 102
Fターム (40件)：
2F065AA06 ,  2F065BB13 ,  2F065CC02 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F112AC06 ,  2F112BA11 ,  2F112CA12 ,  2F112FA03 ,  2F112FA08 ,  2F112FA38 ,  5B047AA07 ,  5B047BB04 ,  5B047BC14 ,  5B047CB05 ,  5B047CB15 ,  5B047CB22 ,  5B057AA11 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057BA17 ,  5B057BA19 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC03 ,  5C072AA01 ,  5C072BA04 ,  5C072EA08 ,  5C072FB27 ,  5C072RA11
引用特許：
審査官引用 (8件)
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