特許
J-GLOBAL ID：200903030120826699

内部品質評価装置

発明者：
原田 充晃

原田 充晃 について

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松下 透

松下 透 について

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石津 裕之

石津 裕之 について

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石見 憲一

石見 憲一 について

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河端 真一

河端 真一 について


出願人/特許権者：
株式会社マキ製作所

株式会社マキ製作所 について

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株式会社クボタ

株式会社クボタ について


代理人 (1件)： 北村 修一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-231357
公開番号（公開出願番号）：特開2006-047217
出願日： 2004年08月06日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：
【課題】 設置時に取り付け誤差が発生していても、精度よく被計測物の品質評価値を計測することが可能となる内部品質評価装置を提供する。【解決手段】 貫通孔57が形成された搬送用載置体1Aにて被計測物Mを載置搬送し、被計測物を透過した光を貫通孔57を通して受光して品質評価用の受光情報を得る計測手段と、被計測物の品質評価値を求める計測制御手段とを備え、その計測制御手段が、搬送用載置体1Aが設定位置に到達してから品質評価処理を実行するまでの待機時間を最適化するための制御モードにおいて、待機時間を設定単位時間ずつ異ならせる複数種の計測条件の夫々にて、被計測物を複数回計測して複数の計測データを求め、それら複数種の計測条件のうちで、複数の計測データが光量判定用条件を満たし、且つ、複数の計測データのバラツキが最も少ない計測条件における待機時間を最適であるとして設定する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
被計測物を載置支持し且つ上下方向に貫通する貫通孔が形成された搬送用載置体を搬送方向に並べる状態で設けて被計測物を計測箇所を経由して一列状態で連続的に搬送する搬送手段と、 前記計測箇所に位置する被計測物に対して光を投射し、且つ、被計測物を透過した光を前記貫通孔を通して受光して品質評価用の受光情報を得る計測手段と、 前記計測手段にて計測された前記品質評価用の受光情報に基づいて被計測物の品質評価値を求める品質評価処理を実行する計測制御手段とを備えた内部品質評価装置であって、 前記搬送用載置体が搬送経路中における前記計測箇所よりも上流側の設定位置に到達したことを検出する載置体検出手段が備えられ、 前記計測制御手段が、 前記載置体検出手段にて前記搬送用載置体が前記設定位置に到達したことを検出してから前記品質評価処理を実行するまでの待機時間又は待機搬送距離を最適化するための調整用制御モードと、 前記載置体検出手段にて前記搬送用載置体が前記設定位置に到達したことを検出してから最適化した待機時間又は最適化した待機搬送距離が経過すると、前記計測箇所に被計測物が位置する計測用タイミングであると判断して前記品質評価処理を実行する通常制御モードとに切り換え自在に構成され、 前記調整用制御モードにおいて、 前記待機時間を設定単位時間ずつ異ならせる、又は、前記待機搬送距離を設定単位距離ずつ異ならせる複数種の計測条件の夫々にて、被計測物を複数回計測して複数の透過光の計測データを求め、それら複数種の計測条件のうちで、その計測条件の複数の計測データが光量判定用条件を満たし、且つ、複数の計測データのバラツキが最も少ない計測条件における前記待機時間又は前記待機搬送距離を最適であるとして設定するように構成されている内部品質評価装置。
IPC (2件)：
G01N 21/35 ,  G01N 21/27
FI (2件)：
G01N21/35 Z ,  G01N21/27 Z
Fターム (29件)：
2G059AA01 ,  2G059AA03 ,  2G059BB11 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059GG03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059JJ25 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM06 ,  2G059MM12 ,  2G059NN10 ,  2G059PP01
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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