特許
J-GLOBAL ID:200903030625125253

半導体ブリッジ主回路の故障検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 富士弥 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-215451
公開番号(公開出願番号):特開平8-084494
出願日: 1994年09月09日
公開日(公表日): 1996年03月26日
要約:
【要約】【目的】 装置の運転停止状態で、しかも少しの回路の追加により半導体ブリッジ主回路素子の導通故障を検出する。【構成】 制御回路7により半導体ブリッジ主回路1の上アームU,Vをオン制御した状態で電圧検出回路11で入力端子間の電圧を検出し、この検出電圧が設定電圧よりも低いときに下アームX,Yに導通故障があると制御回路7で判定する。逆に、下アームをオン制御した状態での検出電圧から上アームに導通故障があるか否かを判定する。これら故障判定は、半導体ブリッジ主回路を備える装置の運転停止状態で判定を得る。
請求項(抜粋):
電力用半導体素子のブリッジ接続構成にされ、直流電源が入力端子間に印加され、該素子のオン・オフ制御で出力端子の直流極性を正負に反転して直流負荷に供給する半導体ブリッジ主回路において、前記入力端子間に直流電圧を印加して該入力端子間の電圧を検出する電圧検出回路と、前記半導体ブリッジ主回路の上アームをオン制御したとき又は下アームをオン制御したときの前記電圧検出回路の検出電圧が設定電圧よりも低いときに前記電力用半導体素子に導通故障があると判定して保護処理を行う処理手段を備えたことを特徴とする半導体ブリッジ主回路の故障検出装置。
IPC (4件):
H02P 7/29 ,  H02M 1/00 ,  H02M 7/48 ,  H02M 7/5387
引用特許:
審査官引用 (8件)
全件表示

前のページに戻る