特許
J-GLOBAL ID：200903030823789396

波長計測装置

発明者：
佐野 安一

佐野 安一 について

, 
平山 紀友

平山 紀友 について


出願人/特許権者：
富士電機システムズ株式会社

富士電機システムズ株式会社 について


代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-326860
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163155
出願日： 2002年11月11日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】AWG(アレイ導波路格子)15に入射される光の偏波依存性を除くことによりAWG15に入射する光のTE波とTM波とのエネルギー比率を一定にし、波長測定誤差を低減させるようにした波長計測装置を提供する。【解決手段】AWG15の前段にデポラライザ20を接続し、TE波とTM波とのエネルギー比率を一定にした非偏光の入射光が常にAWG15に入射されるようにした波長計測装置とした。これによりAWG15へは常に非偏光の入射光が入射されるため、波長測定誤差を低減させることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光源からの光が入力される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子(以下、FBGという)が形成され、各FBGの位置における物理量を測定するために波長検出器で各FBGからの反射光の波長を検出する装置であって、 波長検出器の前段にデポラライザを直列に接続し、波長検出器にほぼ非偏光の反射光を入射させることを特徴とする波長計測装置。
IPC (2件)：
G01K11/12 ,  G01L1/24
FI (2件)：
G01K11/12 F ,  G01L1/24 A
Fターム (3件)：
2F056VF02 ,  2F056VF09 ,  2F056VF11
引用特許：
審査官引用 (4件)
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