特許
J-GLOBAL ID:200903032291508698

磁気記憶装置のフリー層における磁気歪を制御する方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小川 勝男 ,  木崎 邦彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-315136
公開番号(公開出願番号):特開2005-167214
出願日: 2004年10月29日
公開日(公表日): 2005年06月23日
要約:
【課題】 磁気記憶装置のフリー層において、磁気歪を制御する方法および装置を開示する。【解決手段】 ピン層610,分離層620,フリー層630を有する磁気記憶装置のフリー層に対し,第一層厚t1を有す第一フリー層632と第2層厚t2を有す第2フリー層634を設ける。磁気抵抗比ΔR/Rを変更せずに所望の磁気歪を得るため第一,第2フリー層632,634のターゲット組成物を変更せずに,相対厚さ値を修正することにより,フリー層630の磁気歪を制御する。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
ピン層を形成し、前記ピン層を覆う分離層を形成し、第1層厚を有す第1フリー層を形成し、第2層厚を有す第2フリー層を形成し、所望の磁気歪を実現するように前記第1層厚と第2層厚との比を選択することを特徴とする磁気記憶装置のフリー層における磁気歪を制御する方法。
IPC (2件):
H01L43/08 ,  G11B5/39
FI (2件):
H01L43/08 Z ,  G11B5/39
Fターム (3件):
5D034BA04 ,  5D034BA05 ,  5D034CA08
引用特許:
審査官引用 (3件)

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