特許
J-GLOBAL ID：200903032482192151

電子部品基板の試験装置

発明者：
高橋 弘行

高橋 弘行 について

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清川 敏之

清川 敏之 について

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増尾 芳幸

増尾 芳幸 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 前田 均 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-004276
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206191
出願日： 1999年01月11日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：
【要約】【課題】試験のスループットを向上させ、正確な温度での試験を可能とし、試験装置の小型化、単純化および低コスト化を図る。【解決手段】格納部200には2つのトレイ収納部212,214、エレベータ206、トランアーム208およびセットプレート210が設けられている。測定部102には、試験用ソケット50とボードプッシャ76とが設けられ、試験対象であるメモリモジュール10は試験用トレイ20に搭載された状態で測定部102に搬入され試験される。
請求項（抜粋）：
試験前および試験後の電子部品基板を格納する格納部と、前記試験前の電子部品基板を試験する測定部とを少なくとも備え、(1)前記格納部には、第1のトレイが独立して上下方向に収納される第1のトレイ収納部と、第2のトレイが独立して上下方向に収納される第2のトレイ収納部と、前記第1のトレイ収納部と前記第2のトレイ収納部との間に昇降可能に設けられ、前記第1のトレイ収納部および前記第2のトレイ収納部との間で第1のトレイまたは第2のトレイの受け渡しを行う第1の昇降手段と、前記第1のトレイ収納部、前記第2のトレイ収納部および前記第1の昇降手段の上部に設けられ、これらの並設方向に移動可能とされて、前記第1の昇降手段との間で前記第1のトレイまたは前記第2のトレイの受け渡しを行う水平搬送手段と、目的とするポジションに対して昇降可能とされ、前記水平搬送装置との間で前記第1のトレイまたは前記第2のトレイの受け渡しを行う第2の昇降手段と、が設けられ、(2)前記測定部には、前記電子部品基板の基板端子が着脱自在に挿入される試験用ソケットと、前記電子部品基板が試験用トレイに装着された状態で前記電子部品基板の基板端子を前記試験用ソケット内に押し込むためのボードプッシャとが設けられ、かつ前記電子部品基板の基板端子が露出するように前記電子部品基板の両側端部が移動自在に挿入される保持溝が形成されたインサートと、前記電子部品基板の基板端子が露出するように前記インサートを保持するトレイ本体とを有する試験用トレイが搬入および搬出される、ことを特徴とする電子部品基板の試験装置。
Fターム (15件)：
2G032AA07 ,  2G032AB12 ,  2G032AB13 ,  2G032AC03 ,  2G032AD01 ,  2G032AE01 ,  2G032AE02 ,  2G032AE04 ,  2G032AG01 ,  2G032AJ04 ,  2G032AJ07 ,  2G032AK03 ,  2G032AL03 ,  2G032AL04 ,  2G032AL11
引用特許：
審査官引用 (6件)
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