特許
J-GLOBAL ID：200903032617088503

X線診断装置

発明者：
高橋 克夫

高橋 克夫 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-039077
公開番号（公開出願番号）：特開2003-235835
出願日： 2002年02月15日
公開日（公表日）： 2003年08月26日
要約：
【要約】【課題】 被検体の体厚が極端に変化する部位であっても、少ない被曝量で鮮明な一定画像を提供することが可能なX線診断装置を提供すること。【解決手段】 Cアーム16を例えば患者の体軸(Z軸)方向に沿って移動させながらX線を曝射し、X線透視と透視条件の決定を行う。撮影条件は、例えば予め設定された対応テーブルを参照しながら、各X線曝射位置毎に決定された各透視条件に基づいて決定される。X線撮影では、透視条件に基づいて決定された撮影条件によってX線曝射に関する制御が実行され、診断画像が取得される。
請求項（抜粋）：
被検体を搭載する寝台と、前記被検体に対してX線を曝射するX線発生手段と、前記X線発生手段からのX線を検出するX線検出手段と、が設けられた支持器と、前記寝台に対する前記支持器の相対的位置を移動させる移動機構と、前記移動機構により前記支持器の相対的位置を移動させながら、前記被検体に対してX線を曝射しX線透視画像を取得する場合、当該X線透視に関する透視条件を決定する透視条件決定手段と、前記移動機構により前記X線透視の方向に沿って前記支持器を相対的位置を移動させながら、前記被検体に対してX線を曝射し撮影画像を取得する場合の当該X線撮影に関する撮影条件を、前記透視条件に基づいて決定する撮影条件決定手段と、前記撮影条件に基づいて、前記X線発生手段を制御する制御手段と、を具備することを特徴とするX線診断装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 320 ,  A61B 6/00 331 ,  H04N 5/325
FI (3件)：
A61B 6/00 320 M ,  A61B 6/00 331 E ,  A61B 6/00 350 S
Fターム (27件)：
4C093AA07 ,  4C093AA16 ,  4C093CA01 ,  4C093CA02 ,  4C093CA08 ,  4C093CA34 ,  4C093DA02 ,  4C093EA12 ,  4C093EB02 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EC16 ,  4C093EC21 ,  4C093EC28 ,  4C093EC33 ,  4C093EC52 ,  4C093ED06 ,  4C093ED07 ,  4C093FA13 ,  4C093FA16 ,  4C093FA19 ,  4C093FA43 ,  4C093FA44 ,  4C093FA54 ,  4C093FA55 ,  4C093FD01 ,  4C093FF34
引用特許：
審査官引用 (4件)
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