光放射パターン測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：高矢諭 , 牧野剛博 , 松山圭佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-414717
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172665
出願日： 2003年12月12日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：

【課題】測定対象から放射される光を複数の方向から同時に測定し、高精度且つ短時間にその角度依存性を明らかにする。【解決手段】測定対象(10)を、互いに異なる放射角度θで取り囲むように配設された複数の受光部22a〜22eと、各受光部に入射する光を、それぞれ検出するための検出器30とを備える。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

測定対象から放射される光の配光特性を測定するための光放射パターン測定装置において、測定対象を互いに異なる放射角度で取り囲むように配設された複数の受光部と、各受光部に入射する光を、それぞれ検出するための検出器と、を備えたことを特徴とする光放射パターン測定装置。

IPC (6件)：

G01J1/00 , G01J3/36 , G01J3/50 , G01M11/00 , H01L33/00 , H01S5/00

FI (7件)：

G01J1/00 E , G01J1/00 C , G01J3/36 , G01J3/50 , G01M11/00 T , H01L33/00 K , H01S5/00

Fターム (25件)：

2G020AA04 , 2G020AA08 , 2G020CB43 , 2G020CB55 , 2G020CC63 , 2G020CD06 , 2G020CD14 , 2G020CD22 , 2G020DA05 , 2G020DA12 , 2G020DA63 , 2G065AA11 , 2G065AA13 , 2G065AB04 , 2G065AB26 , 2G065AB28 , 2G065BA34 , 2G065BA40 , 2G065BB02 , 2G065BB25 , 2G065DA05 , 2G086EE03 , 2G086EE11 , 5F041AA46 , 5F073HA10

引用特許：

出願人引用 (4件)

発光素子検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-298236 出願人：オムロン株式会社
配光特性測定器
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-276126 出願人：キヤノン株式会社
薄膜構造の評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-227584 出願人：株式会社日立製作所

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