特許
J-GLOBAL ID:200903032648967432
放射線計測システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高崎 芳紘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-363270
公開番号(公開出願番号):特開2004-198113
出願日: 2002年12月16日
公開日(公表日): 2004年07月15日
要約:
【課題】スライス厚さ可変機能に対応して、ダイナミックレンジを十分に活用することができる放射線計測システムを提供する。【解決手段】検出器回路16に入力した信号を中央制御装置19で設定したスライス厚さ情報に基づき検出器回路16の内部にあるフィードバック抵抗9を有する前置増幅器27で増幅するとき、その増幅率を増幅率選択装置26によってフィードバック抵抗9を選択して調整するようにした。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
放射線源装置に対向してスライス厚さを制御するスライス厚さ可変コリメータと、上記放射線源装置から照射した放射線強度を検出する検出器装置と、この検出器装置から出力するアナログ信号に対して前置増幅器で増幅してサンプルホールドアンプに入力してトリガパルス発生装置からの検出タイミングで電圧保持し、この保持電圧をアナログデジタル変換器でデジタル信号に変換し透過データとして出力する検出器回路とを備えた放射線計測システムにおいて、上記検出器装置に入射する放射線量の変化に応じて上記前置増幅器の増幅率を選択する増幅率選択装置を設けたことを特徴とする放射線計測システム。
IPC (3件):
G01N23/04
, A61B6/03
, G01T1/29
FI (3件):
G01N23/04
, A61B6/03 320K
, G01T1/29 C
Fターム (21件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA03
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001JA06
, 2G001LA11
, 2G001SA04
, 2G088EE29
, 2G088FF14
, 2G088JJ05
, 2G088KK05
, 2G088LL15
, 4C093AA22
, 4C093AA29
, 4C093CA31
, 4C093DA10
, 4C093EA14
, 4C093FA32
, 4C093FA33
引用特許:
審査官引用 (10件)
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コンピュータ断層撮影装置及びコンピュータ断層撮影方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-338277
出願人:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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X線ビーム量検出方法及びX線CT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-004265
出願人:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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CT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-097413
出願人:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
-
X線センサ信号処理回路及びそれを用いたX線CT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-267501
出願人:株式会社日立製作所
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特開平1-190338
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放射線検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-284788
出願人:アロカ株式会社
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X線CT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-033581
出願人:トヨタ自動車株式会社
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特開平3-209117
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特開昭63-084525
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蛍光物質定量装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-315471
出願人:株式会社分子バイオホトニクス研究所
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