特許
J-GLOBAL ID:200903033258992750
ジッタ測定回路とそれを用いたICテスタ
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-318507
公開番号(公開出願番号):特開2001-141767
出願日: 1999年11月09日
公開日(公表日): 2001年05月25日
要約:
【要約】【課題】安価・小型な構成の直流測定系統でジッタを測定できICテスタへの組み込みも容易なジッタ測定回路を実現するとともに、そのようなジッタ測定回路を用いたICテスタを提供することにある。【解決手段】測定信号の時間幅を電圧に変換するT/V変換器と、このT/V変換器の出力信号を検波して直流信号を出力する少なくとも1つの検波器とでジッタ測定回路を構成することを特徴とするもの。
請求項(抜粋):
測定信号の時間幅を電圧に変換するT/V変換器と、このT/V変換器の出力信号を検波して直流信号を出力する少なくとも1つの検波器とで構成されたことを特徴とするジッタ測定回路。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R 29/02 L
, G01R 31/28 M
Fターム (5件):
2G032AA00
, 2G032AB06
, 2G032AD07
, 2G032AF06
, 2G032AL00
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平1-314451
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特開昭62-054174
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ジッタ測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-325817
出願人:リーダー電子株式会社
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ICテストシステム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-308959
出願人:株式会社アドバンテスト
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特開平1-314451
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特開昭62-054174
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ジッタ測定方法及び半導体試験装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-097078
出願人:株式会社アドバンテスト
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