特許

J-GLOBAL ID：200903097373488401

計器評価システム

発明者： 伊藤 晴夫 ,  寺門 定範 ,  北 良平 ,  板倉 浩 ,  園田 寛信
出願人/特許権者： 横河電機株式会社 ,  日本原子力発電株式会社 ,  横河エンジニアリングサービス株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-025634
公開番号（公開出願番号）：特開2002-228495
出願日： 2001年02月01日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
要約：

【要約】【課題】 過去の校正データを的確に評価して計器特性値を予測することができるとともに、計器の更新時期を的確に判断し計器の校正周期を延長することができる計器評価システムを提供する。【解決手段】 過去の校正データに基づいて計器特性値が演算(S300)されると相関係数が演算(S500)され、計器特性値に時間との相関があるか否かが判断(S600)される。相関があるときには回帰直線が演算(S700)されて、計器が劣化傾向であるか否かが判断(S800)され、劣化傾向である場合には計器更新判断処理Aが実行(S1100)される。劣化傾向ではない場合には計器更新判断処理Aが実行(S900)され、次回校正省略可否判断処理Aが実行(S1000)される。相関がない場合には計器更新判断処理Bが実行(S1200)され、次回校正省略可否判断処理Bが実行(S1300)される。

請求項（抜粋）：

計器の入出力特性を表わす計器特性値の時間による変化を分析して、前記計器の傾向を評価する計器評価システムであって、前記計器特性値と前記時間との相関係数を演算する相関係数演算部と、前記相関係数演算部の演算結果に基づいて、前記計器特性値に前記時間との相関があるか否かを判断する相関判断部と、を含む計器評価システム。

Fターム (4件)：

2F076AA00 ,  2F076BA12 ,  2F076BA16 ,  2F076BA18

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 電子機器の故障予測方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-232413   出願人：富士通株式会社
• プラント設備監視装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-205666   出願人：株式会社東芝
• 校正周期適正化方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-243681   出願人：株式会社日立製作所