光断層画像化装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：加藤卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-144824
公開番号（公開出願番号）：特開2006-322767
出願日： 2005年05月18日
公開日（公表日）： 2006年11月30日
要約：

【課題】簡単な構成で、観察対象物体の断層像を高解像力で観察できるとともに、より高い解像力とコントラストの画像を得ることが可能な光断層画像化装置を提供する。【解決手段】光源1、2からの部分的にコヒーレントな光ビームが、ビームスプリッター10により観察対象物体24へ向かう探索光と、固定反射面12へ向かう参照光とに分割される。探索光としての光ビームは光変調手段16により周波数シフトされ、この周波数シフトした光ビームは、光軸方向とそれと直交する方向に走査され、対象物体が2次元的に走査される。対象物体からの反射光は、参照光と合成され干渉光が光路9dに発生する。光ビームの光軸方向への移動と光軸に直交する方向の走査から得られる干渉光は、検出器27、28から時系列的な干渉信号として取り出され、対象物体の反射強度情報が取得される。このような構成では、機械的な移動部分が探索光路にあるので、機械走査に伴う光干渉特性の変化が起こり難く光学調整も容易となる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源からの光ビームを走査して観察対象物体の所定部位に照射し、該対象物体からの反射光を光学的な干渉現象を利用して検出処理することにより対象物体の断層画像情報を取得する光断層画像化装置において、低干渉性光ビームを発生する光源と、前記光源からの光ビームを対象物体へ向かう探索光と、固定反射面へ向かう参照光とに分割する光分割部材と、前記探索光としての光ビームを周波数シフトさせるための光変調手段と、前記周波数シフトした光ビームを光軸方向に移動するための移動手段と、前記周波数シフトした光ビームを光軸と直交する方向に走査するための走査手段と、前記走査手段、移動手段、光変調手段、光分割部材を介して導かれる対象物体からの反射光と、前記固定反射面で反射し光分割部材を介して導かれる参照光との間で合成される干渉光を受光するための検出手段と、光ビームの光軸方向への移動と光軸に直交する方向の走査に応じて、前記検出手段から得られる時系列的な干渉信号を処理して、対象物体内部の反射強度情報を取得する処理手段と、を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。

IPC (2件)：

G01N 21/17 , A61B 10/00

FI (2件)：

G01N21/17 620 , A61B10/00 E

Fターム (15件)：

2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF02 , 2G059GG02 , 2G059GG09 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ22 , 2G059KK03 , 2G059LL01

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開平4-174345号公報
特表平6-511312号公報
光断層イメ-ジング装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-316980 出願人：オリンパス光学工業株式会社

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審査官引用 (6件)

散乱光の三次元分布を記録する方法及び装置
公報種別：公表公報出願番号：特願2000-549904 出願人：レーザー・ディアグノスティック・テクノロジーズ・インコーポレイテッド
光学的検査方法及び光学的検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-061763 出願人：株式会社ニコン
可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置
公報種別：公表公報出願番号：特願2001-543977 出願人：オーティーアイオフサルミックテクノロジーズインク

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