特許
J-GLOBAL ID:200903033380206812

診断システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-053180
公開番号(公開出願番号):特開2004-265009
出願日: 2003年02月28日
公開日(公表日): 2004年09月24日
要約:
【課題】高性能で時間がかかる詳細診断手段の処理回数の低減【解決手段】監視対象の現場設備11a、11bの状態情報を基準値デ-タベ-ス23に基づいて簡易診断手段22で診断し、上記簡易診断手段22での診断結果が異常有りの場合に上記状態情報を詳細診断手段34で詳細診断する診断システムであって、上記簡易診断手段22が異常有りの診断をし上記詳細診断手段34が異常無しの診断をした場合に、基準値マスタ31に事前に格納してある新しい基準値を上記基準値デ-タベ-ス23に格納する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
監視対象の現場設備の状態情報を基準値デ-タベ-スに基づいて簡易診断手段で診断し、上記簡易診断手段での診断結果が異常有りの場合に上記状態情報を詳細診断手段で詳細診断する診断システムであって、上記簡易診断手段が異常有りの診断をし上記詳細診断手段が異常無しの診断をした場合に、基準値マスタに事前に格納してある新しい基準値を上記基準値デ-タベ-スに格納する診断システム。
IPC (1件):
G05B23/02
FI (1件):
G05B23/02 T
Fターム (4件):
5H223AA01 ,  5H223CC03 ,  5H223DD07 ,  5H223EE11
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 特開昭63-223905
  • 故障診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-167125   出願人:オムロン株式会社
  • 設備機器診断システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-262500   出願人:旭エンジニアリング株式会社, 学校法人東京理科大学
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