特許
J-GLOBAL ID：200903033743632584

工程管理装置および工程管理方法

発明者：
高見 敏弘

高見 敏弘 について

, 
諏訪 光信

諏訪 光信 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-115226
公開番号（公開出願番号）：特開2005-301566
出願日： 2004年04月09日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：
【課題】 少なくとも製造条件、特性検査結果および製造工程の稼働に伴うコストに関する情報を統合管理し、所望の最終特性を実現するとともに、複数の製造工程の製造条件を組合わせたときの製造コストを最小とすることのできる工程管理装置、工程管理方法、記録媒体および生産管理システムを提供する。 【解決手段】 生産管理システムに、中間特性検査結果を管理する中間特性検査結果管理装置141、142と、中間特性検査結果に適応する製造条件の組合せを一又は複数設定する製造条件設定モジュール15と、ここで設定された製造条件の組合せについて、最終特性検査工程までの製造コストを算出する製造コスト算出モジュール18と、ここで算出された製造コストが最小となる製造条件の組合せを選択する製造条件確定モジュール21と、を備える。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
所定の製造条件により所定の部品を製造するための複数の製造工程と、該製造工程のいずれかで製造された中間部品の特性を検査する複数の中間特性検査工程と、複数の製造工程を経て製造された最終部品の特性を検査する最終特性検査工程と、を管理する工程管理装置であって、 中間特性検査工程で取得された中間特性検査結果を管理する中間特性管理手段と、前記中間特性検査結果に適応する製造条件の組合せを一又は複数設定する製造条件設定手段と、該製造条件設定手段が設定した製造条件の組合せについて、各該製造条件の製造コストを算出し、さらに最終特性検査工程までの製造コストを算出する製造コスト算出手段と、該製造コスト算出手段が算出した、製造条件の組合せの製造コストにより、該製造コストが最小となる製造条件の組合せを選択する製造条件選択手段と、を備えたことを特徴とする工程管理装置。
IPC (1件)：
G05B19/418
FI (1件)：
G05B19/418 Z
Fターム (4件)：
3C100AA07 ,  3C100BB27 ,  3C100EE06 ,  3C100EE08
引用特許：
出願人引用 (4件)
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